[发明专利]一种芯片高速测试电路及测试方法在审
| 申请号： | 201610137846.9 | 申请日： | 2016-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN105652186A | 公开（公告）日： | 2016-06-08 |
| 发明（设计）人： | 廖裕民;陈幸 | 申请（专利权）人： | 福州瑞芯微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 | 代理人： | 林云娇 |
| 地址： | 350000 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片高速测试电路，包括PLL电路单元、CPU时钟OCC电路单元、功能分频电路单元、CPU电路单元、门控时钟单元、测试模式判断单元、测试分频电路单元、总线时钟OCC电路单元、通路选择单元以及总线电路单元；所述PLL电路单元分别连接CPU时钟OCC电路单元和门控时钟单元；所述测试模式判断单元、门控时钟单元、测试分频电路单元、总线时钟OCC电路单元、通路选择单元依次连接；且所述测试模式判断单元还连接测试模式信号；所述CPU时钟OCC电路单元分别连接所述功能分频电路单元和CPU电路单元；所述功能分频电路单元还通过通路选择单元连接所述总线电路单元。以实现有分频关系的串联时钟都能做at_speed测试,从而大幅提高高速测试覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 高速 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
一种芯片高速测试电路，其特征在于：包括PLL电路单元、CPU时钟OCC电路单元、功能分频电路单元、CPU电路单元、门控时钟单元、测试模式判断单元、测试分频电路单元、总线时钟OCC电路单元、通路选择单元以及总线电路单元；所述PLL电路单元分别连接CPU时钟OCC电路单元和门控时钟单元；所述测试模式判断单元、门控时钟单元、测试分频电路单元、总线时钟OCC电路单元、通路选择单元依次连接；且所述测试模式判断单元还连接测试模式信号；所述CPU时钟OCC电路单元分别连接所述功能分频电路单元和CPU电路单元；所述功能分频电路单元还通过通路选择单元连接所述总线电路单元。
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