[发明专利]模具状态检测方法有效

专利信息
申请号: 201610152149.0 申请日: 2016-03-17
公开(公告)号: CN107009589B 公开(公告)日: 2019-11-15
发明(设计)人: 陈俞;徐自谦;纪廷运;黄俊彦;杨志强;辛孟锠 申请(专利权)人: 高瞻资讯股份有限公司
主分类号: B29C45/76 分类号: B29C45/76
代理公司: 11228 北京汇泽知识产权代理有限公司 代理人: 毛广杰<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 中国台湾台北市*** 国省代码: 中国台湾;TW
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摘要: 发明公开一种模具状态检测方法,步骤包括:取得第一、第二门槛数据;撷取模具的连续的多个第一检测影像且第一门槛数据的多个第一上限值、第一下限值分别对应各第一检测影像的多个像素;依据第一门槛数据对多个第一检测影像进行检测;依据通过检测的多个第一检测影像更新第二门槛数据的多个第二上限值及多个第二下限值;撷取模具的连续的多个第二检测影像且第二门槛数据的多个第二上限值、第二下限值分别对应各第二检测影像的多个像素;依据更新后的第二门槛数据对多个第二检测影像进行检测;依据通过检测的多个第二检测影像更新第一门槛数据的多个第一上限值及多个第一下限值。本发明经由于检测过程中实时更新门槛数据,可有效提升检测精确度。
搜索关键词: 模具 状态 检测 方法
【主权项】:
1.一种模具状态检测方法,其特征在于,包括下列步骤:/na)取得一第一门槛数据及一第二门槛数据,其中该第一门槛数据包括多个第一上限值及多个第一下限值, 该第二门槛数据包括多个第二上限值及多个第二下限值;/nb)撷取一模具的连续的多个第一检测影像,其中该多个第一上限值及该多个第一下限值皆分别对应各该第一检测影像的多个像素;/nc)依据该第一门槛数据对该多个第一检测影像进行检测;/nd)依据通过检测的该多个第一检测影像的该多个像素的像素值决定分别对应不同像素位置的多个第一最大像素值及多个第一最小像素值;/ne)依据该多个第一最大像素值更新该第二门槛数据的该多个第二上限值;/nf)依据该多个第一最小像素值更新该第二门槛数据的该多个第二下限值;/ng)撷取该模具的连续的多个第二检测影像,其中该多个第二上限值及该多个第二下限值均分别对应各该第二检测影像的多个像素;/nh)依据更新后的该第二门槛数据对该多个第二检测影像进行检测;/ni)依据通过检测的该多个第二检测影像的该多个像素的像素值来决定分别对应不同像素位置的多个第二最大像素值及多个第二最小像素值;/nj)依据该多个第二最大像素值更新该第一门槛数据的该多个第一上限值;及/nk)依据该多个第二最小像素值更新该第一门槛数据的该多个第一下限值。/n
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