[发明专利]基于多线阵CCD平行拼接的二维位置光学测量系统有效

专利信息
申请号: 201610172575.0 申请日: 2016-03-24
公开(公告)号: CN105698684B 公开(公告)日: 2018-08-28
发明(设计)人: 刘爱敏;肖茂森;高立民;陆卫国;王海霞;贾乃勋 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 陈广民
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供了一种基于多线阵CCD平行拼接的二维位置光学测量系统,包括光源合作目标、共用物镜、分光镜组和线阵CCD组;分光镜组包括依次设置在共用物镜输出光路上的多个分光镜;线阵CCD组包括与分光镜一一对应的多个线阵CCD,且每个线阵CCD通过各自光路分别与光源合作目标共轭;每个线阵CCD的光敏面位于直角坐标系的YOZ平面,光敏长度方向与OZ轴平行。测量时,将待测物体与在光源合作目标固连;光源合作目标经共用物镜、分光镜组后成像于线阵CCD组上,由第一线阵CCD、第二线阵CCD,第三线阵CCD,……,第N线阵CCD共同完成光源合作目标的二维位置测量。本发明具有成本低、精度高的优点。
搜索关键词: 基于 多线阵 ccd 平行 拼接 二维 位置 光学 测量 系统
【主权项】:
1.基于多线阵CCD平行拼接的二维位置光学测量系统,包括光源合作目标、共用物镜、分光镜组和线阵CCD组;所述光源合作目标由光源经匀光系统照亮刻划板形成;所述线阵CCD组中每个线阵CCD的像素长度均能覆盖一维测量;其特征在于:所述共用物镜设置在能够接收光源合作目标所发出的光线的位置处;所述分光镜组包括依次设置在共用物镜输出光路上的多个分光镜,依次记为第一分光镜,第二分光镜,第三分光镜,……,第N分光镜;所述线阵CCD组包括与所述分光镜一一对应的多个线阵CCD,依次记为第一线阵CCD,第二线阵CCD,第三线阵CCD,……,第N线阵CCD,且每个线阵CCD通过各自光路分别与光源合作目标共轭;每个线阵CCD的光敏面位于空间直角坐标系的YOZ平面,光敏长度方向与空间直角坐标系的OZ轴平行;当线阵CCD的数量N为奇数时,第(N+1)/2线阵CCD的光敏长度方向相对于系统的各路输出光轴无Y向平移距离,且相邻两个线阵CCD之间的Y向间距均为像方高度的1/N;当线阵CCD的数量N为偶数时,第N/2线阵CCD的光敏长度方向相对于其所在光路的光轴沿Y向平移1/2N,第N/2+1线阵CCD的光敏长度方向相对其所在光路的光轴沿Y向平移‑1/2N,且相邻两个线阵CCD之间的Y向间距均为像方高度的1/N;所述光源合作目标的Y向尺寸大于系统在Y向测量范围的1/N;所述刻划板上的刻线不能交叉,刻线在像方的最小间距大于1个像元;测量时,将待测物体与在光源合作目标固连;光源合作目标经共用物镜、分光镜组后分别成像于第一线阵CCD、第二线阵CCD,第三线阵CCD,……,第N线阵CCD上,由第一线阵CCD、第二线阵CCD,第三线阵CCD,……,第N线阵CCD共同完成光源合作目标的二维位置测量。
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