[发明专利]电源芯片测试系统及方法在审
| 申请号： | 201610190800.3 | 申请日： | 2016-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN107290643A | 公开（公告）日： | 2017-10-24 |
| 发明（设计）人： | 杨旸;韩涛 | 申请（专利权）人： | 成都锐成芯微科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610041 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电源芯片测试系统，包括待测电源芯片、用于为待测电源芯片提供工作电压的直流源模块、用于测试所述待测电源芯片在不同测试状态下输入电流的电流测试模块、用于为所述待测电源芯片提供目标负载的负载模块、用于测试所述待测电源芯片在不同测试状态下的输出电压的电压测试模块及与所述直流源模块、所述电流测试模块、所述负载模块及所述电压测试模块相连的用于控制和管理对所述待测电源芯片的整个测试过程的上位机。本发明还公开了一种电源芯片测试方法。本发明可以对被测电源芯片进行自动线性调整、负载调整的测试，自动采集输入电流、输出电压数据，并能将完整的测试数据信息进行记录并输出。 | ||
| 搜索关键词： | 电源 芯片 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种电源芯片测试系统，其特征在于：所述电源芯片测试系统包括待测电源芯片、用于为待测电源芯片提供工作电压的直流源模块、与所述直流源模块及所述待测电源芯片相连用于测试所述待测电源芯片在不同测试状态下输入电流的电流测试模块、与所述待测电源芯片相连用于为所述待测电源芯片提供目标负载的负载模块、与所述待测电源芯片相连用于测试所述待测电源芯片在不同测试状态下的输出电压的电压测试模块及与所述直流源模块、所述电流测试模块、所述负载模块及所述电压测试模块相连的用于控制和管理对所述待测电源芯片的整个测试过程的上位机。
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