[发明专利]TFT基板的制作方法及制得的TFT基板有效
申请号: | 201610194250.2 | 申请日: | 2016-03-30 |
公开(公告)号: | CN105633016B | 公开(公告)日: | 2019-04-02 |
发明(设计)人: | 葛世民 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种TFT基板的制作方法及制得的TFT基板。本发明的TFT基板的制作方法,利用透明金属氧化物导体材料可见光透过率较高的特点以及将透明金属氧化物半导体掺杂处理成透明金属氧化物导体的方法,同时形成有源层与像素电极,能够达到减少光罩次数,提高生产效率和降低生产成本的目的;此外,仅采用一道半透光罩曝光、刻蚀形成公共电极以及遮光层和透明导电层形成的叠层遮光层,可进一步减少光罩次数,通过TFT下方设置遮光层,避免了TFT电性稳定性受到光照的影响。本发明的TFT基板,制程简单,生产成本低,且TFT下方设有遮光层,避免了TFT电性稳定性受到光照的影响。 | ||
搜索关键词: | tft 制作方法 基板 | ||
【主权项】:
1.一种TFT基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供一基板(10),在所述基板(10)上依次沉积透明导电膜(11)和遮光膜(12);步骤2、采用一道半透光罩(15)对所述透明导电膜(11)与遮光膜(12)进行图形化处理,得到位于基板(10)上且间隔设置的透明导电层(21)与公共电极(22)、以及位于透明导电层(21)上方与其宽度相等且两端对齐的遮光层(30);步骤3、在所述遮光层(30)、公共电极(22)、及基板(10)上沉积缓冲层(40),在所述缓冲层(40)上依次沉积氧化物半导体层(41)、绝缘层(42)、及栅极金属层(43);步骤4、采用一道光罩对所述栅极金属层(43)与绝缘层(42)进行图形化处理,得到宽度相等且两端对齐的栅极(50)及栅极绝缘层(60);以所述栅极(50)与栅极绝缘层(60)为遮蔽层,对所述氧化物半导体层(41)进行离子掺杂,将所述氧化物半导体层(41)上未被所述栅极(50)及栅极绝缘层(60)覆盖的区域转化为氧化物导体;步骤5、采用一道光罩对所述氧化物半导体层(41)进行图形化处理,形成有源层(70)以及与有源层(70)相连的像素电极(80);所述有源层(70)包括对应于所述栅极(50)下方的沟道区(71)、位于所述沟道区(71)一侧的漏极接触区(72)、位于所述沟道(71)另一侧且与像素电极(80)相连的连接区(73);其中,所述有源层(70)的沟道区(71)为氧化物半导体材料,所述有源层(70)的漏极接触区(72)与连接区(73)、以及像素电极(80)为氧化物导体材料;所述氧化物半导体材料为透明金属氧化物半导体材料,所述氧化物导体材料为离子掺杂的透明金属氧化物半导体材料;步骤6、在所述栅极(50)、有源层(70)、及缓冲层(40)上沉积第一钝化层(90),采用一道光罩对该第一钝化层(90)进行图形化处理,在所述第一钝化层(90)上形成对应于所述漏极接触区(72)的通孔(91);步骤7、在所述第一钝化层(90)上沉积漏极金属层(95),采用一道光罩对该漏极金属层(95)进行图形化处理,得到漏极(96),所述漏极(96)通过通孔(91)与所述有源层(70)的漏极接触区(72)相接触,在所述漏极(96)、及第一钝化层(90)上沉积第二钝化层(98),完成TFT基板的制作。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电技术有限公司,未经深圳市华星光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610194250.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:嵌入式锗硅的形成方法
- 下一篇:一种阵列基板的制造方法、阵列基板及显示装置
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造