[发明专利]TFT基板的制作方法在审
申请号: | 201610202940.8 | 申请日: | 2016-03-31 |
公开(公告)号: | CN105655359A | 公开(公告)日: | 2016-06-08 |
发明(设计)人: | 胡俊艳 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 430070 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供一种TFT基板的制作方法,通过一道半透光罩将有源层、栅极绝缘层、栅极的图形光刻出来,使得整个TFT基板的制程采用3道光罩即可完成,与现有技术相比,可节约一道光罩,工艺简单,且制造成本低。 | ||
搜索关键词: | tft 制作方法 | ||
【主权项】:
一种TFT基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供一基板(10),在所述基板(10)上依次沉积缓冲层(20)、半导体层(30)、绝缘层(40)、及栅极金属层(50);步骤2、在所述栅极金属层(50)上涂覆一层光阻材料,采用一半透光罩(90)对该层光阻材料进行图形化处理,得到呈“凸”字形的光阻层(60),该光阻层(60)包括位于中间的第一光阻段(61)与位于第一光阻段(61)两侧的第二光阻段(62),所述第一光阻段(61)的厚度大于第二光阻段(62)的厚度;步骤3、采用第一道蚀刻工艺去除所述栅极金属层(50)、绝缘层(40)上未被光阻层(60)覆盖的部分;采用第二道蚀刻工艺去除所述半导体层(30)上未被光阻层(60)覆盖的部分,得到有源层(35);步骤4、对光阻层(60)进行灰化处理,薄化第一光阻段(61)并去除第二光阻段(62);采用蚀刻工艺去除所述栅极金属层(50)与绝缘层(40)上未被光阻层(60)覆盖的部分,形成栅极(55)与栅极绝缘层(45);以所述光阻层(60)、栅极(55)、及栅极绝缘层(45)为阻挡层,对所述有源层(35)进行处理,使得所述有源层(35)上未被所述栅极(55)与栅极绝缘层(45)覆盖的区域的导电性增强,形成源极接触区(31)、漏极接触区(32)、以及位于所述源极接触区(31)与漏极接触区(32)之间的沟道区(33);步骤5、将剩余的光阻层(60)剥离去除,在所述栅极(55)、有源层(35)、及缓冲层(20)上沉积层间介电层(70),采用一道光罩对该层间介电层(70)进行图形化处理,在所述层间介电层(70)上形成分别对应于所述源极接触区(31)与漏极接触区(32)的第一通孔(71)与第二通孔(72);步骤6、在所述层间介电层(70)上沉积源漏极金属层(80),采用一道光罩对该源漏极金属层(80)进行图形化处理,得到源极(81)与漏极(82),所述源极(81)和漏极(82)分别通过第一通孔(71)和第二通孔(72)与所述有源层(35)的源极接触区(31)和漏极接触区(32)相接触,从而制得一TFT基板。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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