[发明专利]TFT基板的制作方法在审

专利信息
申请号: 201610202940.8 申请日: 2016-03-31
公开(公告)号: CN105655359A 公开(公告)日: 2016-06-08
发明(设计)人: 胡俊艳 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/77
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人: 林才桂
地址: 430070 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种TFT基板的制作方法,通过一道半透光罩将有源层、栅极绝缘层、栅极的图形光刻出来,使得整个TFT基板的制程采用3道光罩即可完成,与现有技术相比,可节约一道光罩,工艺简单,且制造成本低。
搜索关键词: tft 制作方法
【主权项】:
一种TFT基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供一基板(10),在所述基板(10)上依次沉积缓冲层(20)、半导体层(30)、绝缘层(40)、及栅极金属层(50);步骤2、在所述栅极金属层(50)上涂覆一层光阻材料,采用一半透光罩(90)对该层光阻材料进行图形化处理,得到呈“凸”字形的光阻层(60),该光阻层(60)包括位于中间的第一光阻段(61)与位于第一光阻段(61)两侧的第二光阻段(62),所述第一光阻段(61)的厚度大于第二光阻段(62)的厚度;步骤3、采用第一道蚀刻工艺去除所述栅极金属层(50)、绝缘层(40)上未被光阻层(60)覆盖的部分;采用第二道蚀刻工艺去除所述半导体层(30)上未被光阻层(60)覆盖的部分,得到有源层(35);步骤4、对光阻层(60)进行灰化处理,薄化第一光阻段(61)并去除第二光阻段(62);采用蚀刻工艺去除所述栅极金属层(50)与绝缘层(40)上未被光阻层(60)覆盖的部分,形成栅极(55)与栅极绝缘层(45);以所述光阻层(60)、栅极(55)、及栅极绝缘层(45)为阻挡层,对所述有源层(35)进行处理,使得所述有源层(35)上未被所述栅极(55)与栅极绝缘层(45)覆盖的区域的导电性增强,形成源极接触区(31)、漏极接触区(32)、以及位于所述源极接触区(31)与漏极接触区(32)之间的沟道区(33);步骤5、将剩余的光阻层(60)剥离去除,在所述栅极(55)、有源层(35)、及缓冲层(20)上沉积层间介电层(70),采用一道光罩对该层间介电层(70)进行图形化处理,在所述层间介电层(70)上形成分别对应于所述源极接触区(31)与漏极接触区(32)的第一通孔(71)与第二通孔(72);步骤6、在所述层间介电层(70)上沉积源漏极金属层(80),采用一道光罩对该源漏极金属层(80)进行图形化处理,得到源极(81)与漏极(82),所述源极(81)和漏极(82)分别通过第一通孔(71)和第二通孔(72)与所述有源层(35)的源极接触区(31)和漏极接触区(32)相接触,从而制得一TFT基板。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉华星光电技术有限公司,未经武汉华星光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610202940.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top