[发明专利]框胶固化率测试样品的制备方法及框胶固化率测试方法

摘要

本发明提供一种框胶固化率测试样品的制备方法及框胶固化率测试方法。本发明的框胶固化率测试样品的制备方法，利用碱性溶液将框胶表面的黑色矩阵去除，操作简单，成功率高，制得的框胶固化率测试样品表面干净、无黑色矩阵残留。本发明的框胶固化率测试方法，利用碱性溶液将框胶表面的黑色矩阵去除后，采用红外光谱仪测试框胶的红外光谱图，计算得到框胶固化率，该方法操作简单，提高了框胶固化率测试的可执行性，测试结果的准确度高，为制程监控及框胶异常解析提供数据。

主权项

1.一种框胶固化率测试样品的制备方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、获取表面附着有框胶(30)和黑色矩阵(12)的TFT基板(20)，作为待测样本(80)；步骤2、将所述待测样本(80)放置于容器(70)中，在所述容器(70)中加入碱性溶液，浸泡所述待测样本(80)，直至黑色矩阵(12)软化；步骤3、将软化的黑色矩阵(12)从框胶(30)上剥离，得到由TFT基板(20)与附着于其上的框胶(30)构成的框胶固化率测试样品(60)；所述步骤1包括：步骤11、提供一待测试的液晶面板(90)，所述液晶面板(90)包括CF基板(10)、TFT基板(20)、设于所述CF基板(10)与TFT基板(20)之间用于将CF基板(10)与TFT基板(20)粘接在一起的框胶(30)、设于所述CF基板(10)上远离框胶(30)一侧的上偏光片(40)、以及设于所述TFT基板(20)上远离框胶(30)一侧的下偏光片(50)；其中，所述CF基板(10)包括基板(11)和设于基板(11)上的黑色矩阵(12)，所述框胶(30)与所述黑色矩阵(12)相接触；步骤12、将液晶面板(90)两面的上、下偏光片(40、50)撕去，加热液晶面板(90)的一角，待所述一角的框胶(30)软化后，从所述一角将CF基板(10)与TFT基板(20)撕开，黑色矩阵(12)从CF基板(10)的基板(11)上剥离，与框胶(30)共同附着于TFT基板(20)表面；步骤13、切下一部分表面附着有框胶(30)和黑色矩阵(12)的TFT基板(20)，作为待测样本(80)，所述待测样本(80)中的框胶(30)为所述步骤12中非加热软化的部分。