[发明专利]检测单元、阵列基板、液晶显示装置以及检测方法有效

专利信息
申请号: 201610230053.1 申请日: 2016-04-14
公开(公告)号: CN105676495B 公开(公告)日: 2018-11-27
发明(设计)人: 刘司洋;张天豪 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 黄威
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提出一种新的技术方案,包括一种用以进行LCD点灯检测的检测单元、一种包含该检测单元的阵列基板、一种包含该阵列基板液晶显示装置以及一种用以进行LCD点灯检测的检测方法,对原有RGB液晶显示器生产工艺进行简单的改进,减少短路线的数量,只需改动一张Array光罩,即可使RGBW液晶显示器半成品实现纯色及混色的点灯检测,有效降低生产成本。
搜索关键词: 检测 单元 阵列 液晶 显示装置 以及 方法
【主权项】:
1.一种检测单元,其特征在于,包括:一短路线组,包括一第一短路线;一第二短路线;以及一第三短路线;至少一引线组,包括一R像素引线,连接至所述第一短路线;一G像素引线,连接至所述第二短路线;一B像素引线,连接至所述第三短路线;以及一W像素引线,连接至所述第二短路线;以及至少一信号线组,每一信号线组连接至一引线组,所述信号线组包括:一R像素信号线,连接至所述R像素引线;一G像素信号线,连接至所述G像素引线;一B像素信号线,连接至所述B像素引线;以及一W像素信号线,连接至所述W像素引线。
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