[发明专利]用于测试磁卡电路的测试方法、设备和系统在审
| 申请号： | 201610234686.X | 申请日： | 2016-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN105738798A | 公开（公告）日： | 2016-07-06 |
| 发明（设计）人： | 陈建斌 | 申请（专利权）人： | 福建联迪商用设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/316 | 分类号： | G01R31/316 |
| 代理公司： | 福州市景弘专利代理事务所(普通合伙) 35219 | 代理人： | 林祥翔;吕元辉 |
| 地址： | 350003 福建省福州市鼓*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于测试磁卡电路的测试方法、设备和系统，解决磁卡模块电路的测试效率不高的问题。本发明涉及硬件测试，特别是磁卡模块电路的测试。用于测试磁卡电路测试系统包括用于测试磁卡电路的测试设备、包含磁卡电路的被测设备；所述用于测试磁卡电路的测试设备包括恒定电压产生模块、结果判断模块；恒定电压产生模块用于产生恒定电压值；所述结果判断模块用于判断接收到的数值信号与恒定电压值是否相等，若相等则被测设备的磁卡电路正常，否则被测设备的磁卡电路异常；所述包含磁卡电路的被测设备包括磁卡电路、AD转换模块、MCU；所述磁卡电路用于接收电压模拟信号，并将电压模拟信号放大；所述AD转换模块将放大后的模拟信号转换为数字信号；所述MCU将数字信号发送到测试设备的结果判断模块。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 磁卡 电路 方法 设备 系统 | ||
【主权项】：
用于测试磁卡电路的测试设备，其特征在于，包括恒定电压产生模块、结果判断模块；恒定电压产生模块连接被测设备的磁卡电路，被测试设备的MCU连接结果判定模块；恒定电压产生模块用于产生恒定电压的模拟信号；结果判断模块用于判断从被测试设备的MCU获得的数值信号与恒定电压值是否相等，若相等则被测设备的磁卡电路正常，否则被测设备的磁卡电路异常。
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