[发明专利]取向膜涂覆检测方法及检测设备有效
申请号: | 201610236589.4 | 申请日: | 2016-04-15 |
公开(公告)号: | CN105652486B | 公开(公告)日: | 2019-07-09 |
发明(设计)人: | 徐长健;马国靖;任锦宇;陆顺沙 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种取向膜涂覆检测方法及检测设备,涉及显示技术领域,用于提高检测取向膜涂覆效果的精准度。其中所述取向膜涂覆检测方法包括:读取待检测基板上的取向膜的图形;获取所述取向膜的图形,并在将所述取向膜的图形与储存的所述待检测基板的显示区域的图形对位后,测量所述取向膜的图形的边缘与所述显示区域的图形的边缘之间的距离。本发明提供的取向膜涂覆检测方法及检测设备用于检测取向膜涂覆的效果。 | ||
搜索关键词: | 取向 膜涂覆 检测 方法 设备 | ||
【主权项】:
1.一种取向膜涂覆检测方法,其特征在于,包括:读取待检测基板上的取向膜的图形;获取所述取向膜的图形,并在将所述取向膜的图形与储存的所述待检测基板的显示区域的图形对位后,测量所述取向膜的图形的边缘与所述显示区域的图形的边缘之间的距离;所述读取待检测基板上的取向膜的图形的步骤包括:对所述待检测基板进行加热;检测所述待检测基板上的取向膜所在区域和取向膜以外区域的温度差异,并根据所述温度差异生成所述待检测基板上的取向膜的图形。
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