[发明专利]一种逆反射标志测量仪有效
| 申请号： | 201610251119.5 | 申请日： | 2016-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN105758823B | 公开（公告）日： | 2019-01-22 |
| 发明（设计）人： | 杨宗文 | 申请（专利权）人： | 北京中交工程仪器研究所 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102600 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种逆反射标志测量仪，其技术方案要点是包括光学暗箱和光源，光源设置在光学暗箱内，光学暗箱的表面设置有开口，开口处设置有遮挡开口的试样，光学暗箱上设置有调节槽，调节槽内设置有对试样反射的光进行引出的光纤，光纤连接有对光纤引出的光进行检测的光探测器，调节槽处设置有固定组件，光纤通过固定组件与光学暗箱可拆卸固定连接，达到了方便进行多角度测量的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 逆反 标志 测量仪 | ||
【主权项】：
1.一种逆反射标志测量仪，包括光学暗箱(1)和光源，光源设置在光学暗箱(1)内，光学暗箱(1)的表面设置有开口，开口处设置有遮挡开口的试样，其特征在于：光学暗箱(1)上设置有调节槽(6)，调节槽(6)内设置有对试样反射的光进行引出的光纤(4)，光纤(4)连接有对光纤(4)引出的光进行检测的光探测器，调节槽(6)处设置有固定组件(5)，光纤(4)通过固定组件(5)与光学暗箱(1)可拆卸固定连接；光纤(4)为六根，每根光纤(4)对应一个光探测器，每根光纤(4) 分别对应的观测角度为0.2,0.33,0.5,1,1.5和2。
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