[发明专利]测试壳设计方法及装置有效
| 申请号： | 201610289656.9 | 申请日： | 2016-05-04 |
| 公开（公告）号： | CN107345999B | 公开（公告）日： | 2020-01-31 |
| 发明（设计）人： | 冯燕;陈岚 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 赵兴华;王宝筠 |
| 地址： | 100029 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明的目的是提供测试壳设计方法及装置。该方法包括：获取设计参数,根据所述设计参数确定所述测试壳的输入输出端口信息以及连接方式,使用相应的连接方式完成每一WBR Cell的连接；将所有WBR Cell的移位路径首尾相连，组成测试壳扫描链；当选通器的数目不为0时，使用相应的连接方式插入每一选通器。在本发明中，可根据设计参数(IP核功能端口信息、IP核内部扫描测试信息、WBR Cell结构、测试壳并行访问宽度和并行外部测试时测试壳并行扫描链长度等)自动进行WBR设计，进而完成测试壳的设计。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 设计 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测试壳设计方法，其特征在于，包括：/n获取设计参数，所述设计参数包括IP核功能端口信息、IP核内部扫描测试信息、WBRCell结构、测试壳并行访问宽度W
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