[发明专利]摄影测量中长度测量相对误差的绝对评价方法有效

专利信息
申请号: 201610297146.6 申请日: 2016-05-06
公开(公告)号: CN105783733B 公开(公告)日: 2018-08-17
发明(设计)人: 孙鹏;董明利;吕乃光;王君;燕必希 申请(专利权)人: 北京信息科技大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01C11/00
代理公司: 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11416 代理人: 顾珊;陈轶兰
地址: 100085 北京市海淀区清*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种摄影测量中长度测量相对误差的绝对评价方法,包括步骤:a)建立测量场,所述测量场包括反光点和背景;b)标定基准尺;c)将所述基准尺设置在所述测量场内,并以同一姿态保持稳定;d)在测量场内,以第一方式移动所述基准尺并调整所述基准尺姿态,以第二方式对其拍摄图片;e)获取所述基准尺不同位置、不同姿态的全局平差测量网络图片;f)通过所述全局平差测量网络图片获取空间点的三维坐标;g)识别不同位置的基准尺,并计算各位置基准尺长度;h)求解所述基准尺的平均长度和不确定度u(Si);i)通过所述基准尺的平均长度和不确定度u(Si)计算长度测量相对误差的品质参数B;j)获得检验测量仪器是否合格结果。
搜索关键词: 摄影 测量 长度 相对误差 绝对 评价 方法
【主权项】:
1.一种摄影测量中长度测量相对误差的绝对评价方法,包括步骤:a)建立测量场,所述测量场包括反光点和背景;b)标定基准尺;c)将所述基准尺设置在所述测量场内,并以同一姿态保持稳定;d)在测量场内,以第一方式移动所述基准尺并调整所述基准尺姿态,以第二方式对其拍摄图片;e)获取所述基准尺不同位置、不同姿态的全局平差测量网络图片;f)通过所述全局平差测量网络图片获取空间点的三维坐标;g)识别不同位置的基准尺,并计算各位置基准尺长度;h)求解所述基准尺的平均长度和不确定度u(Si);i)通过所述基准尺的平均长度和不确定度u(Si)计算长度测量相对误差的品质参数B;j)获得检验测量仪器是否合格结果。
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