[发明专利]RIN测量方法

摘要

本发明提供一种RIN测量方法，该方法应用在RIN测量装置中，其包括控制放大器通电，以使频谱仪测量出第一噪声谱密度；控制光发射装置、光衰减器和探测器通电，并控制光衰减器对光发射装置提供的光的功率大小进行调节；针对每次调节，根据该次调节后，电流计测量出的通过探测器的电流、频谱仪测量出的第二噪声谱密度以及第一噪声谱密度，并基于RIN、T(ω)×G(ω)、电流、第二噪声谱密度和第一噪声谱密度之间的对应关系建立方程式，其中T(ω)表示探测器的归一化频率响应函数，G(ω)表示放大器的增益谱；根据各次调节后建立的方程式构建方程式组，并根据方程式组计算出RIN。通过本发明，可以提高RIN测量的准确度，并降低RIN测量成本。

主权项

一种RIN测量方法，所述方法应用在RIN测量装置中，所述RIN测量装置包括依次连接的光发射装置、光衰减器、探测器、放大器和频谱仪，以及与所述探测器连接的电流计，其特征在于，所述方法包括：控制所述放大器通电，以使所述频谱仪测量出第一噪声谱密度；控制所述光发射装置、所述光衰减器和所述探测器通电，并控制所述光衰减器对所述光发射装置提供的光的功率大小进行调节；针对每次调节，根据该次调节后，所述电流计测量出的通过所述探测器的电流、所述频谱仪测量出的第二噪声谱密度以及所述第一噪声谱密度，并基于RIN、T(ω)×G(ω)、所述电流、所述第二噪声谱密度和所述第一噪声谱密度之间的对应关系建立方程式，其中T(ω)表示所述探测器的归一化频率响应函数，G(ω)表示所述放大器的增益谱；根据各次调节后建立的方程式构建方程式组，并根据所述方程式组计算出所述RIN；所述基于RIN、T(ω)×G(ω)、所述电流、所述第二噪声谱密度和所述第一噪声谱密度之间的对应关系建立方程式包括：根据公式建立方程式，其中Id表示所述电流，R表示所述探测器的负载电阻，RIN(ω)表示所述RIN，Non(ω)表示所述第二噪声谱密度，Noff(ω)表示所述第一噪声谱密度，e表示单个电子的电荷。