[发明专利]DUT测试板及其使用方法有效

专利信息
申请号: 201610411868.X 申请日: 2016-06-12
公开(公告)号: CN107490755B 公开(公告)日: 2020-04-07
发明(设计)人: 辛军启 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(天津)有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅;李时云
地址: 300385 天津市西青*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 在本发明提供的DUT测试板及其使用方法中,所述DUT测试板包括电源信号选择单元、DUT信号选择单元和自动切换单元,利用DUT信号选择单元的两个选择端口输出需要的电源信号,进而将Vpp信号连接到所述待测样品DUT的任意一个引脚上,并利用自动切换单元实现所述Vpp信号的自动接通和断开,因此能够同时满足FT测试和VT测试的硬件要求,而且兼顾现有的硬件设置和测试程序,具有结构简单、使用方便、检测成本低的特点。
搜索关键词: dut 测试 及其 使用方法
【主权项】:
一种DUT测试板,其特征在于,包括:电源信号选择单元、DUT信号选择单元和自动切换单元;所述电源信号选择单元用于接收外部测试机台提供的多个电源信号,并根据测试要求在所述多个电源信号中选择需要的电源信号;所述DUT信号选择单元与所述电源信号选择单元电性连接,并根据所述电源信号选择单元提供的电源信号向待测样品提供DUT信号;所述自动切换单元设置在所述电源信号选择单元与所述DUT信号选择单元之间,用于实现Vpp信号的自动接通与断开。
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