[发明专利]含盐储层样品的制备及评价方法在审

专利信息
申请号: 201610651802.8 申请日: 2016-08-10
公开(公告)号: CN107727653A 公开(公告)日: 2018-02-23
发明(设计)人: 李勇;雷刚林;金旭;高志勇;唐雁刚;能源;吴超;周露;李建明;魏红兴;莫涛;邸宏利;史玲玲;王佐涛;王晓琦 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01N21/21;G01N21/64;G01N23/2251;G01N23/00;G01N1/28;G01N1/32
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 代理人: 张洋,黄健
地址: 100007 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种含盐储层样品的制备及评价方法。本发明提供的含盐储层样品的制备方法包括采用无水介质切割机将储层样品切割为试样,试样具有平整的第一表面和第二表面;将试样的第一表面粘结在导电基底上;将试样的第二表面进行清洁抛光处理;在清洁抛光处理后的试样的第二表面上设置导电层;将导电层与导电基底电连接。本发明提供的含盐储层样品的制备方法,由于在制备样品的整个过程中储层样品都没有与水接触,从而避免了水对含盐样品中物质组成的破坏,确保了储层样品中盐类信息观测结果的准确性,提高了含盐储层孔隙评价的精确度。
搜索关键词: 含盐储层 样品 制备 评价 方法
【主权项】:
一种含盐储层样品的制备方法,其特征在于,包括:采用无水介质切割机将储层样品切割为试样,所述试样具有平整的第一表面和第二表面;将所述试样的第一表面粘结在导电基底上;将所述试样的第二表面进行清洁抛光处理;在所述清洁抛光处理后的试样的第二表面上设置导电层;将所述导电层与所述导电基底电连接。
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