[发明专利]本振泄漏自动校准方法及装置在审
| 申请号： | 201610819518.7 | 申请日： | 2016-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN107819712A | 公开（公告）日： | 2018-03-20 |
| 发明（设计）人： | 郑国强;许亮;鲁维民;宋春辉 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04L25/06 | 分类号： | H04L25/06;H04B1/04 |
| 代理公司： | 广东广和律师事务所44298 | 代理人： | 章小燕 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种本振泄漏自动校准方法及装置，属于通讯技术领域。该方法包括为IQ寄存器设置N组不同的配置值(x，y)，所述N的取值为(n+1)2，其中n为正整数；获取所述N组配置值(x，y)对应的N个本振功率值z；根据所述N组配置值(x，y)和对应的N个本振功率值z，确定出包含N个系数的拟合多项式，所述拟合多项式为二元高阶多项式，所述n为所述二元高阶多项式中的最高次数；根据所述拟合多项式，计算本振功率最小值，并得到所述最小值对应的所述IQ寄存器的配置值(X1，Y1)。由此，可以在不增加额外硬件成本的基础上，精确有效地获得本振泄漏校准结果。 | ||
| 搜索关键词： | 泄漏 自动 校准 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种本振泄漏自动校准方法，该方法包括步骤：为IQ寄存器设置N组不同的配置值(x，y)，所述N的取值为(n+1)2，其中n为正整数；获取所述N组配置值(x，y)对应的N个本振功率值z；根据所述N组配置值(x，y)和对应的N个本振功率值z，确定出包含N个系数的拟合多项式，所述拟合多项式为二元高阶多项式，所述n为所述二元高阶多项式中的最高次数；根据所述拟合多项式，计算本振功率最小值，并得到所述最小值对应的所述IQ寄存器的配置值(X1，Y1)。
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