[发明专利]激光加工系统有效
| 申请号： | 201610827133.5 | 申请日： | 2016-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN107030376B | 公开（公告）日： | 2019-12-17 |
| 发明（设计）人： | 和泉贵士 | 申请（专利权）人： | 发那科株式会社 |
| 主分类号： | B23K26/00 | 分类号： | B23K26/00;B23K26/14;B23K26/70 |
| 代理公司： | 11277 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种激光加工系统。该激光加工系统具备：激光振荡器；激光光路，其将激光从激光振荡器的激光射出口引导至工件；杂质气体吸附剂，其吸附对激光的传播产生影响的杂质气体；以及开闭门，其将杂质气体吸附剂曝露在激光光路内。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 加工 系统 | ||
【主权项】：
1.一种激光加工系统，具备：/n激光振荡器，其振荡出激光；/n激光光路，其将所述激光从所述激光振荡器引导至被加工物；/n杂质气体吸附剂，其吸附对所述激光的传播产生影响的所述激光光路内的杂质气体；以及/n曝露功能部，其将所述杂质气体吸附剂曝露在所述激光光路内，/n其中，所述曝露功能部具有开闭门，该开闭门进行开闭动作，以使得在所述杂质气体吸附剂曝露于所述激光光路的状态与所述杂质气体吸附剂不曝露于所述激光光路的状态之间进行切换，/n其中，所述激光加工系统还具备杂质气体混入探测装置，该杂质气体混入探测装置探测所述激光光路内是否混入了所述杂质气体，/n在由所述杂质气体混入探测装置探测到所述激光光路内混入了所述杂质气体时，使所述开闭门进行开动作来将所述杂质气体吸附剂曝露在所述激光光路内。/n
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