[发明专利]一种测量继电器触点超低阻抗的测试电路

摘要

本发明涉及一种测量继电器触点超低阻抗的测试电路，属于电子技术领域，所述的基于R5F212A7单片机测量系统包括被测电阻、精密恒流源、放大模块、信号处理模块、A/D转换模块、MCU控制模块、显示模块；所述的精密恒流源与被测电阻相连，被测电阻连接点M、被测电阻连接点N同时与放大模块相连，放大模块与具有信号处理功能的信号处理模块相连，信号处理模块与A/D转换模块相连，A/D转换模块与MCU控制模块相连，MCU控制模块与显示模块相连，本发明通过采用微处理器R5F212A7的智能化微电阻测量系统，实现了对一些高导电材料电阻率的测量，避免了必须在实验室测量受到的地域限制，同时又避免了购买昂贵的微电阻测量仪，既节约了时间和人力又降低了成本。

主权项

一种测量继电器触点超低阻抗的测试电路，其特征在于：所述的基于单片机微电阻测量系统包括被测电阻、被测电阻连接点M、被测电阻连接点N、导线LI、导线LII、导线LIII、导线LIV、精密恒流源、放大模块、信号处理模块、A/D转换模块、MCU控制模块、显示模块；所述的被测电阻一端设置有被测电阻连接点M，被测电阻连接点M上连接有导线LI、导线LII，被测电阻另一端设置有被测电阻连接点N，被测电阻连接点N上连接有导线LIII、导线LIV；所述的精密恒流源通过被测电阻连接点M、被测电阻连接点N与被测电阻相连，被测电阻连接点M、被测电阻连接点N同时与具有信号放大功能的放大模块相连，放大模块与具有信号处理功能的信号处理模块相连，信号处理模块与具有模数转换功能的A/D转换模块相连，A/D转换模块与具有信号采集功能的MCU控制模块相连，MCU控制模块与具有显示功能的显示模块相连。