[发明专利]一种消光比测试装置有效

专利信息
申请号: 201610872001.4 申请日: 2016-09-29
公开(公告)号: CN107884158B 公开(公告)日: 2021-11-12
发明(设计)人: 余涛;王滔;芦国强 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 代理人: 江婷;李发兵
地址: 518057 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明一方面提供了一种消光比测试装置以解决现有技术中消光比测试装置测试进度高的装置价格昂贵,价格便宜的测试装置测试精度不足的问题,装置包括:衰减器,光电二极管,无自动增益控制电路的跨阻放大器,均方根功率检波器、运算放大器、模拟数字转换芯片和中央处理器,其中,该衰减器的输出端与该光电二级管的输入端连接,该光电二极管的输出端与该跨阻放大器的输入端连接,该跨阻放大器的输出端与该均方根检波器的输入端连接,该均方根检波器的输出端与该运算放大器的输入端连接,该运算放大器的输出端与该模拟数字转换芯片的输入端连接,该模拟数字转换芯片与该中央处理器相连。
搜索关键词: 一种 测试 装置
【主权项】:
一种消光比测试装置,其特征在于,包括:衰减器,光电二极管,无自动增益控制电路的跨阻放大器,均方根功率检波器、运算放大器、模拟数字转换芯片和中央处理器,其中,所述衰减器的输出端与所述光电二级管的输入端连接,所述光电二极管的输出端与所述跨阻放大器的输入端连接,所述跨阻放大器的输出端与所述均方根检波器的输入端连接,所述均方根检波器的输出端与所述运算放大器的输入端连接,所述运算放大器的输出端与所述模拟数字转换芯片的输入端连接,所述模拟数字转换芯片与所述中央处理器相连;所述衰减器,用于将接收的光信号衰减得到衰减后的的光信号,并将所述衰减后的光信号传递给所述光电二极管;所述光电二极管,用于将所述衰减后的光信号转化为电流信号,并将所述电流信号输出给所述跨阻检波器;所述跨阻放大器,用于将所述电流信号转化为差分信号并将所述差分信号输出给所述均方根检波器;所述均方根检波器,用于将所述差分信号转换为直流电压信号,并将所述直流电压信号输出给所述运算放大器;所述运算放大器,用于放大所述直流电压信号,并将放大后的所述直流电压信号输出给所述模拟数字转换芯片;所述模拟数字转换芯片,用于将放大后的所述直流电压信号转换为数字信号,并将所述数字信号发送给所述中央处理器;所述中央处理器,用于根据所述数字信号得到所述待测光收发器的消光比。
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