[发明专利]一种Nand Flash坏块管理方法、装置及存储器有效

专利信息
申请号: 201610903249.2 申请日: 2016-10-18
公开(公告)号: CN106649137B 公开(公告)日: 2020-04-21
发明(设计)人: 杨艺;刘虹;兰海洋;王耀辉 申请(专利权)人: 凌云光技术集团有限责任公司
主分类号: G06F12/06 分类号: G06F12/06
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 逯长明;许伟群
地址: 100094 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明是关于一种Nand Flash坏块管理方法、装置及存储器,该坏块管理方法,通过在FPGA模块内建立与Nand Flash模块中的块数目相同的随机存取存储器RAM,并将每个RAM的地址分别作为Nand Flash模块中每个块的块地址,然后,将检测得到的Nand Flash模块中的每个块的块状态存储在相应地址的RAM,这样,便可以根据各RAM的地址以及RAM中存储的块状态数据,进行相应的读写操作。本发明实施例将RAM的地址作为NAND flash模块中各块的块地址,从而节省了RAM存储块地址占用的空间,并且RAM地址只需用一个计数器来表示,不占用FPGA模块的存储空间,进而节省了FPGA模块的内部资源。
搜索关键词: 一种 nand flash 管理 方法 装置 存储器
【主权项】:
一种Nand Flash坏块管理方法,其特征在于,包括:建立与Nand Flash模块中的块数目相同的随机存取存储器RAM;将每个所述RAM的地址分别作为所述Nand Flash模块中每个块的块地址;对所述Nand Flash模块进行块状态检测,得到所述Nand Flash模块中的每个块的块状态;分别将所述每个块的块状态存储在相应地址的RAM中。
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