[发明专利]一种芳构化助剂及其制备方法

摘要

本发明提供了一种芳构化助剂及其制备方法，以干基计并以所述助剂的总重量为基准，所述助剂包括15‑60重％的天然矿物质、10‑30重％的无机氧化物粘结剂和20‑80重％的含磷和负载金属的MFI结构分子筛。将本发明提供的芳构化助剂应用于烃油吸附脱硫反应中，可在不降低主催化剂脱硫活性的前提下，明显降低汽油中烯烃含量，提高芳烃含量，提高汽油辛烷值。

主权项

一种芳构化助剂，以干基计并以所述助剂的总重量为基准，所述助剂包括15‑60重％的天然矿物质、10‑30重％的无机氧化物粘结剂和20‑80重％的含磷和负载金属的MFI结构分子筛；其中，所述分子筛的n(SiO2)/n(Al2O3)大于100；以P2O5计并以分子筛的干基重量为基准，所述分子筛的磷含量为0.1‑5重％；以负载金属的氧化物计并以分子筛的干基重量为基准，所述分子筛的负载金属含量为0.5‑5重％；所述分子筛的Al分布参数D(Al)满足：0.6≤D(Al)≤0.85，其中，D(Al)＝Al(S)/Al(C)，Al(S)表示采用TEM‑EDS方法测定的分子筛晶粒的晶面边沿向内H距离内任意大于100平方纳米区域的铝含量，Al(C)表示采用TEM‑EDS方法测定的分子筛晶粒所述晶面的几何中心向外H距离内任意大于100平方纳米区域的铝含量，其中所述H为所述晶面边沿某点到该晶面几何中心距离的10％；所述分子筛的负载金属分布参数D(M)满足：2≤D(M)≤10，其中，D(M)＝M(S)/M(C)，M(S)表示采用TEM‑EDS方法测定的分子筛晶粒的晶面边沿向内H距离内任意大于100平方纳米区域的负载金属含量，M(C)表示采用TEM‑EDS方法测定的分子筛晶粒所述晶面的几何中心向外H距离内任意大于100平方纳米区域的负载金属含量；所述分子筛的中孔体积占总孔体积的比例为40‑80体％，孔径为2纳米至20纳米的中孔体积占总中孔体积的比例大于90体％；所述分子筛的强酸酸量占总酸量的比例为60‑80％，B酸酸量与L酸酸量之比为15‑80。