[发明专利]包括三维结构的半导体存储器装置及其制造方法有效
申请号: | 201610946875.X | 申请日: | 2016-11-02 |
公开(公告)号: | CN107346772B | 公开(公告)日: | 2021-02-23 |
发明(设计)人: | 吴星来;金镇浩;孙昌万;李杲泫;洪韺玉 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | H01L27/11573 | 分类号: | H01L27/11573;H01L27/11578 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 张晶;赵爱玲 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种半导体存储器装置,其包括由单元区和在单元区之间的接触区限定的衬底;在接触区之上形成的介电结构;具有分别在单元区之上形成的单元部分、在接触区之上形成并联接单元部分的联接部分以及容纳介电结构的通过部分的存储块;在衬底之上存储块之下形成的外围电路;设置在存储块和外围电路之间并与外围电路电联接的底部线路;设置在存储块之上的顶部线路;以及穿过介电结构并将底部线路和顶部线路联接的接触插塞。 | ||
搜索关键词: | 包括 三维 结构 半导体 存储器 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体存储器装置,其包括:衬底,其包括单元区和在所述单元区之间的接触区;介电结构,其在所述接触区之上形成;存储块,其具有分别在所述单元区之上形成的单元部分、在所述接触区之上形成并联接所述单元部分的联接部分以及容纳所述介电结构的通过部分;外围电路,其在所述衬底之上所述存储块之下形成;底部线路,其设置在所述存储块和所述外围电路之间,所述底部线路与所述外围电路电联接;顶部线路,其设置在所述存储块之上;以及接触插塞,其穿过所述介电结构并将所述底部线路和所述顶部线路联接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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