[发明专利]一种移动状态下的RFID标签抗介质干扰性能测试系统及方法

摘要

本发明公开了一种移动状态下的RFID标签抗介质干扰性能测试系统及方法，本方案基于控速轨道装置、标签固定托盘、介质环境模拟装置、伸缩调节支架、标签信号识别装置以及总控制器来实现。基于上述方案构成的移动状态下的RFID标签抗介质干扰性能测试方案够综合测试介质影响下的移动速度指标检测，自动控制检测过程，可控性高，可重复性强，介质多样可调、并极大地提高检测效率，从而提高RFID系统在典型应用场景中规模化应用的增长率，且针对的介质多样规格化，结构简单，实现方法简便，操作便捷。

主权项

1.一种移动状态下的RFID标签抗介质干扰性能测试方法，其特征在于，所述测试方法包括以下步骤：（1）根据用户操作初始化测试系统，将作为发射端运行轨道的移动台和作为接收端运动轨道的移动台位于同一水平线上，设定两个移动台之间的距离；（2）将待测RFID标签固定在标签固定托盘上，并将介质板固定支架固定在标签固定托盘上；（3）根据待测RFID标签的应用场景需求，安置标签信号识别装置，并使得待测RFID标签与标签信号识别装置进行通信，且调整至最佳识别状态；（4）按照待测RFID标签应用场景的移动速度要求，设定测试系统中控速轨道的速度步长，进行移动速度测试，并记录测试结果的最大值作为移动识别速度；（5）按照待测RFID标签应用场景中的介质材质的检测项目，选取应用场景中涉及的介质板，并将介质板安装于介质板固定框架上，重复步骤（4）；（6）按照待测RFID标签应用场景中的空间位置部署的检测项目，将待测RFID标签固定在介质板固定框架内的卡槽中，移动到所需要的空间位置固定，重复步骤（4）；（7）针对不同介质材质影响的检测项目，将步骤（5）测试结果和步骤（4）测试结果进行比对，并判断所测的介质条件下的移动速度是否满足产品所提出的技术要求；（8）针对介质中空间位置部署影响的检测项目，将步骤（6）测试结果和步骤（4）测试结果进行比对，并判断所测的空间位置部署下的移动速度是否满足产品所提出的技术要求。