[发明专利]一种新的违规电子设备检测系统及检测方法

摘要

本发明公开了一种新的违规电子设备检测系统及检测方法，检测系统包括分别与FPGA信号处理及控制板连接的计算机、第一发射模块、第二发射模块、射频接收模块和磁传感器，所述第一发射模块依次与第一单刀十掷开关、第一带通滤波器和第一发射天线连接；所述第二发射模块依次与第二单刀十掷开关、第二带通滤波器和第二发射天线连接；所述射频接收模块依次与宽带单刀十掷开关、宽带滤波器和接收天线连接。本发明能满足违规电子设备检测性能的需求，可在保证误报概率较低的同时，以解决现有金属探测器对违规电子产品漏报率高且对随身金属制品误报率高的问题，实现违规电子产品的有效检测。

主权项

1.一种新的违规电子设备检测方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤一、对磁异常信号和谐波信号进行AD量化；步骤二、对磁异常信号和谐波信号进行预处理及特征提取；步骤三、利用双模数据特征融合进行目标检测：(1)按如下公式计算二次谐波和三次谐波峰态系数：其中Y_j为第j个频点的幅值，为均值，S为标准方差，M为统计频点个数；(2)统计各通道二次谐波和三次谐波检测频段过门限的点数N2i和N3i；(3)当N2i或N3i大于0时，比较二次谐波峰态系数Pk2i和三次谐波峰态系数Pk3i：如果Pk2i>Pk3i，则给出“该通道存在大量半导体结”的检测结果，然后进行声光告警；如果Pk2i该通道的磁异常信号检测门限γc,i时，求si(t)的自相关系数Ri，当Ri<0.5时，给出“该通道存在疑似钥匙串物品”的检测结果；当Ri≥0.5,则进入第(5)步；(5)如果对称通道的磁异常信号的自相关系数R10‑i≥0.5，则给出第i通道的判决结果为0；如果R10‑i<0.5时，则给出第i通道的判决结果为1，然后进行声光告警。