[发明专利]FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价方法和装置有效
| 申请号： | 201611071738.2 | 申请日： | 2016-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN106776250B | 公开（公告）日： | 2020-04-07 |
| 发明（设计）人： | 罗军;罗宏伟;王小强;唐锐;蔡志刚;李军求 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34;G06F11/30 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 周清华 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价和装置，该方法包括：根据FPGA器件的应用领域确定单项交流参数的第一性能指标和第二性能指标；获取各备选FPGA器件的同一单项交流参数的与第一性能指标对应的第一摸高性能值及与第二性能指标对应的第二摸高性能值；若两个第一摸高性能值的差值大于预设阈值，则对两个备选FPGA器件根据差值进行排序；若两个第一摸高性能值的差值小于或等于预设阈值，则根据第二摸高性能值的大小对两个备选FPGA器件进行排序；当所有的备选FPGA器件排序完毕时，根据所有的备选FPGA器件的排序结果输出评价结果。该方法的适应用性好且得到的评价结果更全面。 | ||
| 搜索关键词： | fpga 器件 单项 交流 参数 摸高 性能 评价 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价方法，其特征在于，包括：根据FPGA器件的应用领域确定单项交流参数的第一性能指标和第二性能指标；获取各备选FPGA器件的同一单项交流参数的与所述第一性能指标对应的第一摸高性能值及与所述第二性能指标对应的第二摸高性能值；根据其中两个备选FPGA器件的所述第一摸高性能值的差值与预设阈值进行比较；若所述两个备选FPGA器件的所述第一摸高性能值的差值大于预设阈值，则对所述两个备选FPGA器件根据所述第一摸高性能值的差值进行排序；若所述两个备选FPGA器件的所述第一摸高性能值的差值小于或等于预设阈值，则根据两个备选FPGA器件的所述第二摸高性能值的大小对所述两个备选FPGA器件进行排序；检测所有的备选FPGA器件是否排序完毕；若是，则根据所有的备选FPGA器件的排序结果输出评价结果。
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