[发明专利]一种存储器的测试方法和装置有效
申请号: | 201611090839.4 | 申请日: | 2016-11-30 |
公开(公告)号: | CN108122596B | 公开(公告)日: | 2020-07-28 |
发明(设计)人: | 王立峰 | 申请(专利权)人: | 北京京存技术有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆;胡彬 |
地址: | 100176 北京市大兴区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种存储器的测试方法和装置。所述方法包括:根据预设的伪随机函数获取至少一条操作指令,分别对所述操作指令顺序编号,并将所述操作指令按所述编号顺序排列,构成测试序列;根据所述编号顺序执行所述测试序列中的操作指令,对存储器进行测试;如果检测到所述存储器出现错误,则利用所述测试序列对修复后的存储器进行重新测试。实现了对存储器程序和/或数据的随机测试,保证了测试的全面性,提高了测试的准确性和效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 存储器 测试 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种存储器的测试方法,其特征在于,包括:根据预设的伪随机函数获取至少一条操作指令,分别对所述操作指令顺序编号,并将所述操作指令按所述编号顺序排列,构成测试序列;根据所述编号顺序执行所述测试序列中的操作指令,对存储器进行测试;如果检测到所述存储器出现错误,则利用所述测试序列对修复后的存储器进行重新测试。
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