[发明专利]集成电路的综合性能评价方法和装置

摘要

本发明涉及一种集成电路的综合性能评价方法和装置，该方法包括：获取N个待测集成电路的相关参数的测量值，并基于测量值得到基本项分值和附加项分值；若各待测集成电路的基本项分值都小于参考值，则采用基于阈值的评价方法对各待测集成电路进行排序得到最终排序结果；基于最终排序结果输出综合性能的评价结果。基于阈值的评价方法包括以下步骤：根据各待测集成电路的基本项分值进行预排序；若预排序后的任意相邻两个待测集成电路的基本项分值的差值小于预设阈值，则基于两个待测集成电路的基本项分值和附加项分值对预排序结果进行调整得到排序结果。通过综合考虑了集成电路的基本项和附加项的影响，使集成电路的评价更为实用、合理、全面和客观。

主权项

1.一种集成电路的综合性能评价方法，其特征在于，包括：获取N个待测集成电路的相关参数的测量值，并基于所述测量值得到基本项分值和附加项分值，所述基本项表示满足FPGA器件基本功能和性能要求的参数项及其指标，其表征的是所述FPGA器件是否达到设计要求的规范值，所述附加项表示所述FPGA器件的有关参数在满足基本的功能和性能要求前提下所能获得的更好的性能指标值，其表征的是所述FPGA器件超出设计要求规范值的余量；若各待测集成电路的基本项分值都小于参考值，则采用基于阈值的评价方法对所述各待测集成电路进行排序得到最终排序结果；基于所述最终排序结果输出综合性能的评价结果；所述基于阈值的评价方法包括以下步骤：根据各待测集成电路的基本项分值进行预排序；若预排序后的任意相邻两个待测集成电路的基本项分值的差值小于预设阈值，则基于两个待测集成电路的基本项分值和附加项分值对预排序结果进行调整得到排序结果，所述预设阈值表征了不同待测集成电路的差异性水平；若各所述待测集成电路中，M个待测集成电路的基本项分值等于所述参考值，则执行以下步骤：将所述M个待测集成电路根据附加项分值进行排序得到第一部分排序结果；采用基于阈值的评价方法对基本项分值小于所述参考值的N‑M个所述待测集成电路进行排序得到第二部分排序结果；根据所述第一部分排序结果和所述第二部分排序结果得到各待测集成电路的最终排序结果；其中M<N。