[发明专利]寄存器位带的测试方法及系统

摘要

一种寄存器位带的测试方法及系统，所述测试方法包括：选取当前待测试外围设备以及对应的屏蔽码文件；计算当前待测试外围设备中寄存器的首地址对应的位带重映射区首地址；向存储器写入测试参数；从存储器中读取测试参数，根据屏蔽码文件，获取当前待测试外围设备中所有存在位带测试需求的寄存器，生成相应的测试激励并进行测试；实时读取当前进行测试的位带重映射区地址中的值、当前进行测试的位带重映射区地址对应的寄存器中的值以及期望值；对读取到的当前进行测试的位带重映射区地址中的值、当前进行测试的位带重映射区地址对应的寄存器中的值以及期望值进行校验，并得到校验结果。上述方案能够提高寄存器位带测试以及寄存器测试的效率。

主权项

1.一种寄存器位带的测试系统，其特征在于，包括：主控制器、地址重映射单元、测试激励生成单元、寄存器监控单元、测试结果校验单元以及存储器，其中：所述主控制器，与所述存储器耦接，适于获知当前待测试外围设备，根据所述当前待测试外围设备，读取对应的屏蔽码文件，所述屏蔽码文件中的屏蔽码适于标识所述当前待测试外围设备中进行位带测试的寄存器；初始化所述存储器，向所述存储器中写入测试参数；以及，适于从所述存储器中读取校验结果；其中，所述测试参数与所述当前待测试外围设备相关，包括：所述屏蔽码、所述当前待测试外围设备中寄存器的首地址、所述当前待测试外围设备中寄存器的地址范围以及所述当前待测试外围设备中寄存器的首地址对应的位带重映射区首地址；所述地址重映射单元，与所述主控制器耦接，适于根据所述当前待测试外围设备，计算所述当前待测试外围设备中寄存器的首地址对应的位带重映射区首地址，并发送至所述主控制器；所述测试激励生成单元，与所述存储器耦接，适于从所述存储器中读取所述测试参数，根据所述屏蔽码、所述当前待测试外围设备中寄存器的首地址以及所述当前待测试外围设备中寄存器的首地址对应的位带重映射区首地址，获取所述当前待测试外围设备中所有存在位带测试需求的寄存器的地址及其对应的位带重映射区地址，生成相应的测试激励并进行测试；所述寄存器监控单元，与所述测试结果校验单元耦接，适于实时读取当前进行测试的寄存器对应的位带重映射区地址中的值、当前进行测试的位带重映射区地址对应的寄存器中的值以及期望值，并发送至所述测试结果校验单元；所述测试结果校验单元，与所述寄存器监控单元耦接，适于对所述寄存器监控单元获取到的所述当前进行测试的寄存器对应的位带重映射区地址中的值、所述当前进行测试的位带重映射区地址对应的寄存器中的值以及所述期望值进行校验，并将得到的校验结果发送至所述存储器。