[发明专利]基于微粒散射光近场照明的超分辨光学显微成像方法

摘要

本发明涉及一种基于微粒散射光近场照明的超分辨光学显微成像方法，在现有暗场光学显微镜的基础上，利用微粒的散射光作为显微镜的照明光源，被散射光照明的区域可以获得超越衍射极限的空间分辨率，实现了空间超分辨成像。相比于普通的明场或暗场显微镜，本发明具有更高的空间分辨率。相比于近场扫描光学显微镜，通过微米颗粒在样品表面的扫描，可以获得整个样品表面的超分辨图像，本发明具有更快的成像速度，不需要在样品表面逐点扫描，每次成像范围可以达到10μm²。

主权项

1.一种基于微粒散射光近场照明的超分辨光学显微成像方法，其特征在于，包括如下步骤：1)在现有的暗场光学显微镜的基础上增加三维移动设备，三维移动设备控制微米级的微粒移动；2)将待测样品置于显微物镜的焦平面上；3)将微粒移动接近待测样品表面，距离待测样品不超过1微米；4)入射光从侧面入射，微粒对入射光散射，使得微粒附近的区域被散射光照亮，在微粒的散射光照明下，暗场光学显微镜对微粒周围被散射光照亮的待测样品表面区域进行成像，完成待测样品表面部分图像采集；5)利用三维移动设备控制微粒在样品表面逐步按次序移动，并控制微粒距离待测样品表面的间隔不超过1微米，每移动一步，用暗场光学显微镜采集一次图像，直至完成待测样品表面的图像采集；6)将所有采集图像按次序拼接，实现待测样品表面超分辨图像。