[发明专利]一种计算化学药物中有关物质含量的HPLC-ELSD双校正因子法有效
申请号: | 201611241484.4 | 申请日: | 2016-12-29 |
公开(公告)号: | CN106706792B | 公开(公告)日: | 2019-05-17 |
发明(设计)人: | 张慧;李于采薇;周洁;周静;赵卿;霍立茹;李战 | 申请(专利权)人: | 南京济群医药科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N30/02 | 分类号: | G01N30/02;G01N30/74 |
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地址: | 211112 江苏省南京市江宁区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及药物分析技术领域,公开了一种计算化学药物中有关物质含量的HPLC‑ELSD双校正因子法。本发明特别针对大多数无紫外吸收的热稳定化学药物,采用HPLC‑ELSD,即高效液相色谱和通用型检测器蒸发光散射检测器相结合的技术,可达到快速有效的检测,不受流动相梯度的影响。根据标准曲线方程,用本发明的双校正因子主成分自身对照法,即同时对斜率k和截距b进行校正,不仅能精确的计算出化学药物中有关物质的百分含量,还可以减少杂质对照品的使用量,操作简单,经济实用,准确可靠,可通用于所有化学药物中有关物质含量的计算。 | ||
搜索关键词: | 化学药物 校正因子 蒸发光散射检测器 标准曲线方程 高效液相色谱 通用型检测器 药物分析技术 流动相梯度 杂质对照品 经济实用 紫外吸收 热稳定 截距 校正 检测 | ||
【主权项】:
1.一种HPLC‑ELSD双校正因子计算方法:a)通过标准曲线方程LgA=kLgC+b,得到k供试品对照、k杂质对照、b供试品对照、b杂质对照斜率k=SLOPE(LgA,LgC)截距b=INTERCEPT(LgA,LgC)b)计算双校正因子Fk=k供试品对照/k杂质对照,Fb=b供试品对照/b杂质对照;所述步骤a)具体操作方法:配制n组不同浓度的化学药物及其有关物质混合对照溶液,注入高效液相色谱仪,测定色谱峰峰面积,得到标准曲线方程LgA=k供试品对照LgC+b供试品对照、LgA=k杂质对照LgC+b杂质对照,分别于不同时间或不同品牌相同填料色谱柱获得m条化学药物及其各有关物质的标准曲线方程,得到m组k供试品对照j和b供试品对照j、k杂质对照j和b杂质对照j数据,n为大于等于2的整数,j为大于0且小于等于m的整数,m为大于等于1的整数;所述步骤b)具体计算方法:Fkj=k供试品对照j/k杂质对照j和Fbj=b供试品对照j/b杂质对照j,将Fk1~Fkm、Fb1~Fbm值取平均,得到各个杂质相对于化学药物的双校正因子Fk、Fb或者Fk’、Fb’。
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