[发明专利]集成电路测试方法有效
| 申请号： | 201611244589.5 | 申请日： | 2016-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN108254669B | 公开（公告）日： | 2020-12-25 |
| 发明（设计）人： | 许文轩;陈莹晏;温承谚;赵家佐;李日农 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 梁丽超;刘冀 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路测试方法，包含下列步骤：产生N种测试图样；依据N种测试图样测试M个芯片的每一个，产生N×M个静态直流电流值，M个芯片的每一个关联于依据N种测试图样产生的N个静态直流电流值，N种测试图样的每一种关联于依据M个芯片产生的M个静态直流电流值；依据N种测试图样的每一种的M个静态直流电流值产生参考值，根据产生的N个参考值以及预设排序规则来得到N种测试图样的参考顺序；依据N种测试图样的参考顺序来对N×M个静态直流电流值进行排序，依据排序后的N×M个静态直流电流值来产生静态直流电流范围；基于静态直流电流范围与N×M个静态直流电流值来进行分析以判断是否有任何不良芯片存在于M个芯片中。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路测试方法，包含下列步骤：产生N种测试图样，其中所述N为大于1的整数；依据所述N种测试图样测试M个芯片的每一个，从而产生N×M个静态直流电流值，其中所述M个芯片的每一个关联于依据所述N种测试图样所产生的N个静态直流电流值，所述N种测试图样的每一种关联于依据所述M个芯片所产生的M个静态直流电流值，所述M为正整数；依据所述N种测试图样的每一种的M个静态直流电流值产生参考值，再按照所产生的N个参考值以及预设排序规则来得到所述N种测试图样的参考顺序；依据所述N种测试图样的参考顺序来对所述N×M个静态直流电流值进行排序，进而依据排序后的所述N×M个静态直流电流值来产生静态直流电流范围；以及基于所述静态直流电流范围与所述N×M个静态直流电流值来进行分析以判断是否有任何不良芯片存在于所述M个芯片中。
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