[实用新型]检测电路结构、阵列基板及显示面板有效

专利信息
申请号: 201620006016.8 申请日: 2016-01-04
公开(公告)号: CN205282048U 公开(公告)日: 2016-06-01
发明(设计)人: 张小祥;刘正;张治超;刘明悬;陈曦;郭会斌 申请(专利权)人: 北京京东方显示技术有限公司;京东方科技集团股份有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 许静;黄灿
地址: 100176 北京*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型提供了一种检测电路结构、阵列基板及显示面板,所述检测电路结构包括多个待检测走线和多个信号通入走线,每一信号通入走线上包括断开的至少两个子走线,每一信号通入走线的各子走线之间的断开区域对应有待检测走线,每一信号通入走线上的各子走线之间通过连接线进行连接,各子走线之间的断开区域所对应的待检测走线与连接线之间形成第一重合区域;连接线的两端分别通过第一过孔和第二过孔与信号通入走线连接,并通过第三过孔在第一重合区域与待检测走线连接。上述方案,增加了过孔之间的距离,使得ITO爬坡处膜质比较好,有电流通过时,不容易发生ITO烧断的现象,导致检测失效。
搜索关键词: 检测 电路 结构 阵列 显示 面板
【主权项】:
一种检测电路结构,包括在衬底基板上设置的多个待检测走线和用于向所述待检测走线输入检测信号的多个信号通入走线,多个待检测走线和多个信号通入走线相互绝缘且交叉布置;其特征在于,每一所述信号通入走线上包括断开的至少两个子走线,且每一所述信号通入走线的各子走线之间的断开区域对应有待检测走线,每一所述信号通入走线上的各子走线之间通过连接线进行连接,且各子走线之间的断开区域所对应的待检测走线与所述连接线之间形成第一重合区域;其中所述连接线的两端分别通过第一过孔和第二过孔与所述信号通入走线连接,并通过第三过孔在所述第一重合区域与所述待检测走线连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京京东方显示技术有限公司;京东方科技集团股份有限公司,未经北京京东方显示技术有限公司;京东方科技集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201620006016.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top