[实用新型]检测电路结构、阵列基板及显示面板有效
申请号: | 201620006016.8 | 申请日: | 2016-01-04 |
公开(公告)号: | CN205282048U | 公开(公告)日: | 2016-06-01 |
发明(设计)人: | 张小祥;刘正;张治超;刘明悬;陈曦;郭会斌 | 申请(专利权)人: | 北京京东方显示技术有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;黄灿 |
地址: | 100176 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型提供了一种检测电路结构、阵列基板及显示面板,所述检测电路结构包括多个待检测走线和多个信号通入走线,每一信号通入走线上包括断开的至少两个子走线,每一信号通入走线的各子走线之间的断开区域对应有待检测走线,每一信号通入走线上的各子走线之间通过连接线进行连接,各子走线之间的断开区域所对应的待检测走线与连接线之间形成第一重合区域;连接线的两端分别通过第一过孔和第二过孔与信号通入走线连接,并通过第三过孔在第一重合区域与待检测走线连接。上述方案,增加了过孔之间的距离,使得ITO爬坡处膜质比较好,有电流通过时,不容易发生ITO烧断的现象,导致检测失效。 | ||
搜索关键词: | 检测 电路 结构 阵列 显示 面板 | ||
【主权项】:
一种检测电路结构,包括在衬底基板上设置的多个待检测走线和用于向所述待检测走线输入检测信号的多个信号通入走线,多个待检测走线和多个信号通入走线相互绝缘且交叉布置;其特征在于,每一所述信号通入走线上包括断开的至少两个子走线,且每一所述信号通入走线的各子走线之间的断开区域对应有待检测走线,每一所述信号通入走线上的各子走线之间通过连接线进行连接,且各子走线之间的断开区域所对应的待检测走线与所述连接线之间形成第一重合区域;其中所述连接线的两端分别通过第一过孔和第二过孔与所述信号通入走线连接,并通过第三过孔在所述第一重合区域与所述待检测走线连接。
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