[实用新型]一种光器件耦合测试用带衰减光纤跳线

摘要

本实用新型公开了一种光器件耦合测试用带衰减光纤跳线，包括光接头，光接头与光纤一端连接，光纤另一端依次穿过尾套、安装筒并与插芯座一端连接，插芯座另一端与插芯一端连接，插芯座上套设有弹簧，安装筒内设置有凸台，插芯座上设置有限位环，弹簧两端分别与凸台和限位环相抵，安装筒外套设有内壳，内壳外套设有外壳，外壳与尾套连接，插芯另一端为测试端，测试端依次穿出内壳和外壳，测试端的端面上设置有铜套安装柱，铜套安装柱上安装有铜套，铜套的外径与测试端的外径相同，铜套的端面的中心设置有光通孔。本实用新型采用铜套进行陶瓷插芯端面非接触的隔离介质，待测光器件的陶瓷插芯与铜套接触不会导致待测光器件的陶瓷插芯端面碰伤。

主权项

一种光器件耦合测试用带衰减光纤跳线，包括光接头（15），其特征在于，光接头（15）与光纤（1）一端连接，光纤（1）另一端依次穿过尾套（2）、安装筒（3）并与插芯座（6）一端连接，插芯座（6）另一端与插芯（7）一端连接，插芯座（6）上套设有弹簧（5），安装筒（3）内设置有凸台（4），插芯座（6）上设置有限位环（13），弹簧（5）两端分别与凸台（4）和限位环（13）相抵，安装筒（3）外套设有内壳（9），内壳（9）外套设有外壳（10），外壳（10）与尾套（2）连接，插芯（7）另一端为测试端，测试端依次穿出内壳（9）和外壳（10），测试端的端面上设置有铜套安装柱（12），铜套安装柱（12）上安装有铜套（8），铜套（8）的外径与测试端的外径相同，铜套（8）的端面的中心设置有光通孔（801）。