[实用新型]辐射检查系统有效
| 申请号： | 201621129695.4 | 申请日： | 2016-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN207263664U | 公开（公告）日： | 2018-04-20 |
| 发明（设计）人： | 李苏祺;郑建斌;胡晓伟;王彦华;王少锋;曹艳锋 | 申请（专利权）人： | 北京君和信达科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/203;G01V5/00 |
| 代理公司： | 北京展翼知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11452 | 代理人： | 屠长存 |
| 地址： | 100088 北京市西*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种辐射检查系统。其中，辐射成像装置可以逐列扫描被检测物体，以得到被检测物体的多个列扫描图像。可见光成像装置用于在辐射检查过程中对被检测物体进行光学成像，以得到被检测物体的多个光学图像。对于得到的列扫描图像和光学图像，可以基于预定的匹配规则，建立对应于同一被检测物体的所述列扫描图像和所述光学图像之间的对应关系。这样，在显示辐射图像时，可以同步地显示与其对应的光学图像，方便安检人员快速确定辐射图像所对应的被检测物体。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 检查 系统 | ||
【主权项】：
一种辐射检查系统，用于在与被检测物体之间具有相对运动的情况下对其进行辐射检查，其特征在于，包括：辐射成像装置，用于逐列扫描被检测物体，以得到所述被检测物体的多个列扫描图像，所述列的方向基本上垂直于所述相对运动的方向；可见光成像装置，在辐射检查过程中与所述辐射成像装置具有固定的相对位置关系，用于在所述辐射检查过程中，对所述被检测物体进行光学成像，以得到所述被检测物体的一个或多个光学图像，其中，基于预定的匹配规则，能够建立对应于同一被检测物体的所述列扫描图像和所述光学图像之间的对应关系。
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