[实用新型]具有双通道光路系统的荧光计有效

专利信息
申请号: 201621174436.3 申请日: 2016-11-02
公开(公告)号: CN206270228U 公开(公告)日: 2017-06-20
发明(设计)人: 刘文冬 申请(专利权)人: 杭州奥盛仪器有限公司
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/64
代理公司: 浙江翔隆专利事务所(普通合伙)33206 代理人: 周培培
地址: 310000 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型涉及一种具有双通道光路系统的荧光计,解决现在一台荧光计只能激发一种波长的荧光的问题,采用的技术方案所述基座上还设有第二光路通道和第二检测通道,与所述第二光路通道配合的第二光源,与所述第二检测通道配合的第二荧光分析系统,所述第二光源的光经过所述第二检测通道射向所述样品座上的样品,样品产生的荧光穿过所述第二检测通道,所述第二荧光分析系统用于分析经过所述第二检测通道射的所述荧光。其效果在一台设备上能够先后激发两种荧光,增大了可检测的波长范围,满足两种条件的检测,使一台设备具备两台设备的检测功能,能够减少检测设备的数量,减少占用空间,降低配置成本。
搜索关键词: 具有 双通道 系统 荧光
【主权项】:
具有双通道光路系统的荧光计,包括基座,设置在基座上的样品座,设置在基座上的通向样品座的第一光路通道和第一检测通道,与所述第一光路通道配合的第一光源,与所述第一检测通道配合的第一荧光分析系统,所述第一光源的光经过所述第一光路通道射向所述样品座上的样品,样品产生的荧光穿过所述第一检测通道,所述第一荧光分析系统用于分析经过所述第一检测通道射的所述荧光,其特征在于所述基座上还设有第二光路通道和第二检测通道,与所述第二光路通道配合的第二光源,与所述第二检测通道配合的第二荧光分析系统,所述第二光源的光经过所述第二检测通道射向所述样品座上的样品,样品产生的荧光穿过所述第二检测通道,所述第二荧光分析系统用于分析经过所述第二检测通道射的所述荧光。
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