[实用新型]一种TFT阵列基板缺陷快速检测系统

摘要

本实用新型公开了一种TFT阵列基板缺陷快速检测系统，其包括TFT阵列基板；背光源和偏光片；测试仪，用于向阵列基板施加预定的电压；其中，所述TFT阵列基板包括阵列排布的多个像素电路、多条栅线和多条数据线，每一像素电路包括串联设置的多个TFT晶体管、像素电极、存储电容和公共电极；一条栅线分别控制相邻像素电路内的不同位置的TFT晶体管的栅极，一条数据线控制连接一排或一列像素电路内的第1个晶体管的源极；每一像素电路内的第N个晶体管的漏极连接像素电极。本TFT阵列基板缺陷快速检测系统，其在绑定IC前，可快速检测出阵列基板的各种显示缺陷，进而避免IC的浪费，降低生产成本。

主权项

一种TFT阵列基板缺陷快速检测系统，其特征在于，包括：TFT阵列基板，其每一像素电路由多个串联的TFT晶体管控制；背光源和偏光片，所述偏光片位于所述TFT阵列基板和背光源之间；测试仪，用于向阵列基板施加预定的电压；其中，所述TFT阵列基板包括阵列排布的多个像素电路、多条栅线和多条数据线，每一像素电路包括串联设置的多个TFT晶体管、像素电极、存储电容和公共电极；一条栅线分别控制相邻像素电路内的不同位置的TFT晶体管的栅极，一条数据线控制连接一排或一列像素电路内的第1个晶体管的源极；每一像素电路内的第N个晶体管的漏极连接像素电极；所述测试仪的VGO端经第一栅线驱动器与所述TFT阵列基板上的偶数栅线连接以向所述偶数栅线输出电压；所述测试仪的VGE端经第二栅线驱动器与所述TFT阵列基板上的奇数栅线连接以向所述奇数栅线输出电压；所述测试仪的VDR端经第一数据线驱动器与所述TFT阵列基板上的偶数数据线连接以导通所述偶数数据线；所述测试仪的VDG端经第二数据线驱动器与所述TFT阵列基板上的奇数数据线连接以导通所述奇数数据线；所述测试仪的Vcom端与所述TFT阵列基板的公共电极连接以向所述公共电极输出电压。