[实用新型]测量系统有效
| 申请号： | 201621401280.8 | 申请日： | 2016-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN206413016U | 公开（公告）日： | 2017-08-15 |
| 发明（设计）人： | 罗庆春;沈鹏辉;于伟 | 申请（专利权）人： | 深圳市通用测试系统有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/10 | 分类号： | H04B17/10;H04B17/20;H04B17/345 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518101 广东省深圳市宝安区西*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种测量系统，包括电波暗室，转台，N个测量天线(N为自然数且N≥11)，以被测件中心为原点建立球面坐标系，所述测量天线的分布为(i＝1,2,3,…,N)，其中θi为15°的正整数倍，并且在θ角度为15°、30°、45°、60°、75°、90°、105°、120°、135°、150°、165°处分别至少包含一个测量天线；并且N个测量天线不在同一平面上。本实用新型能够在较小的电波暗室中创造测量天线之间耦合干扰小，反射低的测量环境，提高测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种测量系统，包括电波暗室，转台，N个测量天线，所述N为自然数且N≥11，其特征在于，以被测件中心为原点建立球面坐标系，所述测量天线的分布为其中i＝1,2,3,…,N，为第i个测量天线的球面坐标，其中：θi为15°的正整数倍，并且在θ角度为15°、30°、45°、60°、75°、90°、105°、120°、135°、150°、165°处分别至少包含一个测量天线；并且N个测量天线不在同一平面上。
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