[实用新型]双能探测器及辐射检查系统有效

专利信息
申请号: 201621423586.3 申请日: 2016-12-23
公开(公告)号: CN206369708U 公开(公告)日: 2017-08-01
发明(设计)人: 李树伟;张清军;赵自然;王钧效;邹湘;赵博震;孙立风;王永强 申请(专利权)人: 同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01N23/08 分类号: G01N23/08;G01V5/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 颜镝
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型涉及一种双能探测器及辐射检查系统,双能探测器包括探测器模块安装架(3)和多个探测器模块(4),所述探测器模块(4)包括高能探测器阵列(43)和低能探测器阵列(41),所述高能探测器阵列(43)与所述低能探测器阵列(41)相对于所述探测器模块安装架(3)上的同一安装平面并列设置。本实用新型可以简化高、低能探测器阵列所连接的光电二极管和印制电路板的布置,使得探测器模块安装架的必要厚度尺寸降低,从而使本实用新型双能探测器的安装和使用更加便利。另一方面,本实用新型中射线束可以独立地照射到互相并列的高、低能探测器阵列,这就一定程度上降低了高、低能探测器阵列在选型时的相互制约。
搜索关键词: 探测器 辐射 检查 系统
【主权项】:
一种双能探测器,其特征在于,包括:探测器模块安装架(3)和多个探测器模块(4),所述探测器模块(4)包括高能探测器阵列(43)和低能探测器阵列(41),所述高能探测器阵列(43)与所述低能探测器阵列(41)相对于所述探测器模块安装架(3)上的同一安装平面并列设置。
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