[实用新型]一种自动测试芯片的装置有效
| 申请号： | 201621475098.7 | 申请日： | 2016-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN206321757U | 公开（公告）日： | 2017-07-11 |
| 发明（设计）人： | 陈启俊;江典棋;刘伟城;王宗彪;翁志伟 | 申请（专利权）人： | 福州福大海矽微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 福州市博深专利事务所(普通合伙)35214 | 代理人： | 林志峥 |
| 地址： | 350000 福建省福州市鼓楼区*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及测试领域，尤其涉及一种自动测试芯片的装置。本实用新型提供的自动测试芯片的装置，包括微控制器、待测芯片、电流检测模块、第一显示模块和模拟开关芯片；所述电流检测模块的一端与所述待测芯片连接，另一端与所述微控制器连接；所述模拟开关芯片的一端与所述待测芯片连接，另一端与所述微控制器连接；所述第一显示模块与所述待测芯片连接。实现自动测试由外部设备的输入信号触发对应功能的芯片。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 自动 测试 芯片 装置 | ||
【主权项】：
一种自动测试芯片的装置，其特征在于，包括微控制器、待测芯片、电流检测模块、第一显示模块和模拟开关芯片；所述电流检测模块的一端与所述待测芯片连接，另一端与所述微控制器连接；所述模拟开关芯片的一端与所述待测芯片连接，另一端与所述微控制器连接；所述第一显示模块与所述待测芯片连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福州福大海矽微电子有限公司，未经福州福大海矽微电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201621475098.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种掉电检测电路与开关电源电路
- 下一篇：继电器测试装置
