[发明专利]用于制造大量光电子半导体器件的方法以及光电子半导体器件有效
申请号: | 201680005873.9 | 申请日: | 2016-01-13 |
公开(公告)号: | CN107112386B | 公开(公告)日: | 2019-10-29 |
发明(设计)人: | L.赫佩尔 | 申请(专利权)人: | 奥斯兰姆奥普托半导体有限责任公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/52;H01L25/16 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 胡莉莉;张涛 |
地址: | 德国雷*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 说明了一种用于制造大量光电子半导体器件(1)的方法,其中所述方法包括如下步骤:a)提供具有半导体层序列(20)的复合体(3),其中所述复合体具有大量彼此机械连接的器件区(3);b)在所述半导体层序列上构造大量触头(4),其中在每个器件区上构造至少一个触头;c)在所述半导体层序列上构造模塑料(50),其中所述模塑料填充在所述触头之间的中间空间(45);d)分割具有所述模塑料的复合体,其中在从所述模塑料分割时形成大量成型体(5),所述成型体(5)分别分配有一个来自所述复合体的器件区的半导体主体(2)。此外,还说明了一种光电子半导体器件。 | ||
搜索关键词: | 用于 制造 大量 光电子 半导体器件 方法 以及 | ||
【主权项】:
1.一种用于制造大量光电子半导体器件(1)的方法,所述方法具有如下步骤:a) 提供具有半导体层序列(20)的第一复合体(3),其中所述第一复合体具有大量彼此机械连接的器件区(3);b) 在所述半导体层序列上构造大量触头(4),其中在每个器件区上构造至少一个触头;c) 在所述半导体层序列上构造第一模塑料(50),其中所述第一模塑料填充在所述触头之间的中间空间(45);d) 分割具有所述第一模塑料的第一复合体,其中在从所述第一模塑料分割时形成大量第一成型体(5),所述第一成型体(5)分别分配有一个来自所述第一复合体的器件区的半导体主体(2);其中,所述半导体主体和所述第一成型体在步骤d)之后为了构造第二复合体(35)而用第二模塑料(550)来改型,其中第二模塑料被构造为使得所述触头完全被覆盖,而且所述触头在切断所述第二复合体之前在另一步骤被暴露。
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