[发明专利]用于调整扫描头的测量位置的系统和方法

摘要

一种方法包括从在框架（314‑318）上跨越材料的幅面（108、206、302）的至少一个表面来回移动的至少一个扫描头（304、304a、304b）接收（406）距离测量值。距离测量值确认至幅面的测量距离。方法还包括控制（408）一个或更多个致动器（314‑316），以便移动框架的至少一部分以改变至少一个扫描头相对于幅面的位置。一个或更多个致动器可被控制成使得：当至少一个扫描头来回移动时，至少一个扫描头维持距幅面的大体固定的偏移。一个或更多个致动器也可被控制成使得：当扫描头来回移动时，幅面在多个扫描头（304a‑304b）之间维持大体固定的位置。

主权项

1.一种用于调整至少一个扫描头（304、304a、304b）相对于材料的幅面（108、206、302）的测量位置的系统，所述系统包含：/n框架（308-312），构造成当至少一个扫描头跨越材料的幅面（108、206、302）的至少一个表面来回移动时支撑至少一个扫描头（304、304a、304b）；和/n致动器系统（314-318），构造成移动所述框架的至少一部分以改变所述至少一个扫描头相对于所述幅面的测量位置；/n其中，所述致动器系统包含控制器（318），构造成：/n从所述至少一个扫描头接收距离测量值，所述距离测量值确认至材料的幅面的测量距离；并且/n控制构造成移动所述框架的至少一部分的一个或更多个致动器（314-316）。/n