[发明专利]在触发碎裂能量的同时迅速扫描宽四极RF窗有效
申请号: | 201680008552.4 | 申请日: | 2016-01-29 |
公开(公告)号: | CN107210181B | 公开(公告)日: | 2019-11-01 |
发明(设计)人: | N·G·布卢姆菲尔德 | 申请(专利权)人: | DH科技发展私人贸易有限公司 |
主分类号: | H01J49/00 | 分类号: | H01J49/00 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 关旭颖 |
地址: | 新加坡*** | 国省代码: | 新加坡;SG |
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摘要: | 使用离子源将样本离子化,且使用串级质谱仪接收离子束。将m/z范围划分成两个或多于两个前体离子隔离窗。选择碎裂参数的两个或多于两个值。所述碎裂参数的所述两个或多于两个值中的第一值具有使所述离子束的最小量离子碎裂的水平。一或多个额外值具有使所述离子束的所述离子产生越来越多的碎裂的越来越具侵攻性的水平。针对每一前体离子隔离窗,指令所述串级质谱仪使用所述前体离子隔离窗及所述第一值来执行对所述离子束的选择及碎裂,且指令所述串级质谱仪使用所述前体离子隔离窗且使用所述一或多个额外值来执行对所述离子束的一或多个额外选择及碎裂。 | ||
搜索关键词: | 触发 碎裂 能量 同时 迅速 扫描 宽四极 rf | ||
【主权项】:
1.一种用于通过用碎裂参数的不同值将每一前体离子隔离窗碎裂两次或多于两次而在串级质谱术数据独立采集DIA实验中提供前体离子信息的系统,所述系统包括:离子源,其经配置以接收样本且将所述样本离子化,从而产生离子束;串级质谱仪,其经配置以接收所述离子束且分析所述离子束的m/z范围;及处理器,其与所述串级质谱仪进行通信,所述处理器进行以下操作:(a)将所述m/z范围划分成两个或多于两个前体离子隔离窗,(b)选择碎裂参数的两个或多于两个值,其中所述碎裂参数的所述两个或多于两个值中的第一值具有使所述离子束的最小量离子碎裂的水平,且所述碎裂参数的所述两个或多于两个值中的一或多个额外值具有使所述离子束的所述离子产生越来越多的碎裂的越来越具侵攻性的水平,(c)针对所述两个或多于两个前体离子隔离窗中的每一前体离子隔离窗,指令所述串级质谱仪使用所述每一前体离子隔离窗且使用所述第一值来执行对所述离子束的选择及碎裂,且指令所述串级质谱仪使用所述每一前体离子隔离窗且使用所述一或多个额外值来执行对所述离子束的一或多个额外选择及碎裂,从而针对所述碎裂参数的所述两个或多于两个值中的每一值产生产物离子光谱,及(d)组合所述两个或多于两个前体离子隔离窗的使用所述碎裂参数的相同值产生的产物离子光谱,从而针对所述碎裂参数的所述两个或多于两个值中的每一者产生整个m/z范围的经组合产物离子光谱。
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