[发明专利]光致发光验证装置、系统和方法有效
申请号: | 201680009103.1 | 申请日: | 2016-07-29 |
公开(公告)号: | CN108174613B | 公开(公告)日: | 2020-11-10 |
发明(设计)人: | 纳比尔·劳安迪 | 申请(专利权)人: | 光谱系统公司 |
主分类号: | G07D7/1205 | 分类号: | G07D7/1205 |
代理公司: | 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 | 代理人: | 刘粉宝 |
地址: | 美国罗*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种用于验证的系统和方法包含:光致发光标签,其包含具有衰减时间的光致发光材料,所述光致发光材料经配置以吸收来自辐射源的入射辐射且在所述辐射源的移除之后发射具有光谱标志的发射辐射;以及传感器,其经配置以在所述衰减时间期间测量所述发射辐射中的所述光谱标志。 | ||
搜索关键词: | 光致发光 验证 装置 系统 方法 | ||
光致发光标签,其包含具有衰减时间的光致发光材料,所述光致发光材料经配置以吸收来自辐射源的入射辐射且在所述辐射源的移除之后发射具有光谱标志的发射辐射;以及
传感器,其经配置以在所述衰减时间期间测量所述发射辐射中的所述光谱标志。
2.根据权利要求1所述的系统,其中测得的光谱标志包含在第一波长处的测得光谱强度和在第二波长处的测得光谱强度以界定测得代码。
3.根据权利要求2所述的系统,其中将所述测得代码与预定代码进行比较以确定验证。4.根据权利要求1所述的系统,其中所述光谱标志包含光谱和空间图案。5.根据权利要求2所述的系统,其中所述测得的光谱标志包含在第三波长处的测得光谱强度。6.根据权利要求1所述的系统,其中所述传感器包含智能电话和平板计算机中的至少一者。7.根据权利要求1所述的系统,其中所述发射辐射中的所述第一和第二波长中的至少一者是在可见光的光谱内。8.根据权利要求1所述的系统,其中所述发射辐射中的所述第一和第二波长中的至少一者是在不可见光的光谱内。9.根据权利要求1所述的系统,其中所述传感器包含成像装置。10.根据权利要求1所述的系统,其中所述光致发光标签经配置以并入到货币中。11.根据权利要求1所述的系统,其中所述衰减时间是至少一秒。12.一种光致发光标签,其包括:光致发光材料,其经配置以吸收入射辐射且发射具有光谱标志的发射辐射,
所述光致发光材料具有衰减时间且经配置以在所述光致发光材料的所述衰减时间期间被检测以使得所述光谱标志可被测量。
13.根据权利要求12所述的光致发光标签,其中所述光谱标志包含在第一波长处的光谱强度和在第二波长处的光谱强度以界定代码。14.根据权利要求12所述的光致发光标签,其中所述光致发光材料安置于织物上。15.根据权利要求14所述的光致发光标签,其中所述标签包含多条丝线,所述多条丝线中的至少两条具有安置于其上的不同类型的光致发光材料。16.根据权利要求15所述的光致发光标签,其中所述多条丝线经过选择、图案化且组合以获得所述光谱标志。17.根据权利要求13所述的光致发光标签,其中所述光谱标志包含光谱和空间图案。18.根据权利要求12所述的光致发光标签,其中所述衰减时间是至少一秒。19.根据权利要求12所述的光致发光标签,其中所述被测量包含被扫描和被成像中的至少一项。20.一种用于验证物品的方法,其包括:用辐射源照射包含光致发光材料的标签,所述光致发光材料具有衰减时间且经配置以吸收入射辐射且在所述辐射源的移除之后发射具有光谱标志的发射辐射;
用传感器在所述衰减时间期间测量所述发射辐射中的所述光谱标志;
用计算装置基于所述光谱标志而产生代码;以及
用所述计算装置将所述代码与预定参考代码进行比较。
21.根据权利要求20所述的方法,其中所述标签进一步经配置以使得所述光谱标志包含在第一波长处的光谱强度、在第二波长处的光谱强度以及在第三波长处的光谱强度。22.根据权利要求20所述的方法,其中所述传感器包含智能电话和平板计算机中的至少一者。该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于光谱系统公司,未经光谱系统公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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