[发明专利]检查装置及检查方法在审
| 申请号： | 201680011588.8 | 申请日： | 2016-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN107709957A | 公开（公告）日： | 2018-02-16 |
| 发明（设计）人： | 新田朋义;长谷川透 | 申请（专利权）人： | 日本梅克特隆株式会社 |
| 主分类号： | G01M99/00 | 分类号： | G01M99/00;H01H9/00;H01H13/48 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司11290 | 代理人： | 李雪春,王维玉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供检查装置及检查方法，考虑导通位置偏移来进行金属弹片开关的好坏判定。实施方式的检查装置(1)是用于检查具有金属弹片(51)的金属弹片开关(50)的检查装置，包括第一检测部(10)，检测表示金属弹片开关(50)触觉导通时的金属弹片(51)的位移量的触觉导通位置；第二检测部(20)，检测用于表示金属弹片开关(50)电导通时的金属弹片(51)的位移量的电导通位置；判定部(312)，基于触觉导通位置及电导通位置来进行金属弹片开关(50)的好坏判定。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种检查装置，检查具有金属弹片的金属弹片开关，其特征在于，包括：第一检测部，检测触觉导通位置，所述触觉导通位置表示所述金属弹片开关触觉导通时的所述金属弹片的位移量；第二检测部，检测电导通位置，该电导通位置表示所述金属弹片开关电导通时的所述金属弹片的位移量；判定部，基于所述触觉导通位置及所述电导通位置来进行所述金属弹片开关的好坏判定。
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