[发明专利]导电结构体以及包括该导电结构体的电子器件有效
申请号: | 201680015766.4 | 申请日: | 2016-03-16 |
公开(公告)号: | CN107405875B | 公开(公告)日: | 2019-06-18 |
发明(设计)人: | 金秀珍;金容赞;金起焕 | 申请(专利权)人: | 株式会社LG化学 |
主分类号: | B32B15/04 | 分类号: | B32B15/04;H01B5/14 |
代理公司: | 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 | 代理人: | 王楠楠;李静 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明提供一种导电结构体以及包括该导电结构体的电子器件。所述导电结构体包括第一铪氧化物层、金属层、第二铪氧化物层并且满足数学式1:[数学式1] | ||
搜索关键词: | 导电 结构 以及 包括 电子器件 | ||
【主权项】:
1.一种导电结构体,包括:包含铪氧化物的第一铪氧化物层;设置在所述第一铪氧化物层上的金属层;以及设置在所述金属层上的包含铪氧化物的第二铪氧化物层,其中,所述导电结构体满足下面的数学式1:[数学式1][数学式2][数学式3][数学式4][数学式5][数学式6]其中,在数学式1中,Deff是通过数学式2和数学式3求得的所述第一铪氧化物层和所述第二铪氧化物层的平均折射率的分散度,keff_dielectric是通过数学式4求得的所述第一铪氧化物层和所述第二铪氧化物层的平均消光系数,d是所述第一铪氧化物层、所述第二铪氧化物层和所述金属层的总厚度,keff_metal是通过数学式5求得的所述第一铪氧化物层、所述第二铪氧化物层和所述金属层的平均消光系数;在数学式2中,neff_550是通过数学式3求得的所述第一铪氧化物层和所述第二铪氧化物层在波长为550nm的光中的平均折射率,neff_450是通过数学式3求得的所述第一铪氧化物层和所述第二铪氧化物层在波长为450nm的光中的平均折射率,neff_380是通过数学式3求得的所述第一铪氧化物层和所述第二铪氧化物层在波长为380nm的光中的平均折射率;在数学式3和数学式4中,n1是所述第一铪氧化物层的折射率,n2是所述第二铪氧化物层的折射率,k1是所述第一铪氧化物层的消光系数,k2是所述第二铪氧化物层的消光系数,f1是所述第一铪氧化物层相对于所述第一铪氧化物层和所述第二铪氧化物层的厚度比例,f2是所述第二铪氧化物层相对于所述第一铪氧化物层和所述第二铪氧化物层的厚度比例;在数学式5和数学式6中,n3是所述第一铪氧化物层和所述第二铪氧化物层的平均折射率neff_dielectric,n4是所述金属层的折射率,k3是所述第一铪氧化物层和所述第二铪氧化物层的平均消光系数keff_dielectric,k4是所述金属层的消光系数,f3是所述第一铪氧化物层和所述第二铪氧化物层相对于所述导电结构体的厚度比例,f4是所述金属层相对于所述导电结构体的厚度比例;所述第一铪氧化物层和所述第二铪氧化物层的平均消光系数keff_dielectric和所述第一铪氧化物层、所述第二铪氧化物层和所述金属层的平均消光系数keff_metal分别是在波长为380nm的光中测得的值。
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