[发明专利]检查装置在审

专利信息
申请号: 201680016310.X 申请日: 2016-03-07
公开(公告)号: CN107407647A 公开(公告)日: 2017-11-28
发明(设计)人: 杉本一幸;槙宏实 申请(专利权)人: 株式会社石田
主分类号: G01N23/10 分类号: G01N23/10
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 代理人: 玉昌峰,吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: X射线检查装置(10)具备X射线源(13),向包含多个种类的物品且该物品被配置于不同位置的商品照射X射线;X射线检测部(14),检测照射于商品的透射X射线;图像生成部(31),基于透射X射线生成X射线透射图像;检查部(35),基于X射线透射图像检查商品中的缺陷;以及存储部(34),存储与在商品中的位置关联对应的、对多个种类的物品中的每个物品设定的多个物品区域以及对每个该物品区域设定的二值化阈值。检查部(35)基于X射线透射图像确定物品区域,并基于为每个该物品区域设定的二值化阈值分别对物品区域进行检查,从而基于该检查结果判断商品中有无缺陷。
搜索关键词: 检查 装置
【主权项】:
一种检查装置,具备:光照射部,向包含多个种类的物品且所述物品被配置于不同的位置的商品照射光;检测部,检测照射于所述商品的所述光的透射光;图像生成部,基于所述透射光生成图像;以及检查部,基于所述图像检查所述商品中的缺陷,所述检查装置其特征在于,具备存储部,所述存储部存储与在所述商品中的位置关联对应的、对多个种类的所述物品中的每个物品设定的多个物品区域以及对每个所述物品区域设定的阈值,所述检查部基于所述图像确定所述物品区域,并基于对每个所述物品区域设定的所述阈值对所述物品区域各自进行检查,从而基于该检查的结果判断所述商品中有无缺陷。
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