[发明专利]玻璃板在审
| 申请号： | 201680017759.8 | 申请日： | 2016-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN107406309A | 公开（公告）日： | 2017-11-28 |
| 发明（设计）人： | 三浦丈宜;宫坂聪史;林泰夫;山中一彦 | 申请（专利权）人： | 旭硝子株式会社 |
| 主分类号： | C03C23/00 | 分类号： | C03C23/00;C03C15/00;C03C21/00 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司11219 | 代理人： | 王海川,穆德骏 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的目的在于，提供一种即使对玻璃表面进行磨削处理或研磨处理、也能够有效地抑制化学强化后的翘曲的玻璃板。本发明涉及一种玻璃板，其为具有第1主面和在厚度方向上位于第1主面相反侧的第2主面的玻璃板，其中，由下述式(1)表示的X为‑0.29＜X＜0.29，并且通过下式(II)求出的F0‑3为0.02以上，A×Δ1H/30Si+B×ΔNa2O+C×ΔSn+D×ΔF＝X (1)F0‑3＝[第1主面中的深度0～3μm的由SIMS得到的平均氟浓度(重量％)]×3 (II)。 | ||
| 搜索关键词： | 玻璃板 | ||
【主权项】：
一种玻璃板，其具有第1主面和在厚度方向上位于第1主面相反侧的第2主面，其中，由下述式(1)表示的X为‑0.29＜X＜0.29，并且通过下式(II)求出的F0‑3为0.02以上，A×Δ1H/30Si+B×ΔNa2O+C×ΔSn+D×ΔF＝X (1)在此，式(1)中的各参数表示以下的含义，Δ1H/30Si：从第1主面中的深度3μm～12μm的由二次离子质谱分析(SIMS)得到的平均1H/30Si计数中减去第2主面中的深度3μm～12μm的由SIMS得到的平均1H/30Si计数而得到的差值ΔNa2O：从第1主面中的深度0～3μm的由XRF得到的平均Na2O浓度(重量％)中减去第2主面中的深度0～3μm的由XRF得到的平均Na2O浓度(重量％)而得到的差值ΔSn：从第1主面中的深度0～10μm的由XRF得到的作为表示玻璃中的锡的含量的指标的锡计数的值中减去第2主面中的深度0～10μm的由XRF得到的作为表示玻璃中的锡的含量的指标的锡计数而得到的差值ΔF：从第1主面中的深度0～12μm的由SIMS得到的平均氟浓度(重量％)×12中减去第2主面中的深度0～12μm的由SIMS得到的平均氟浓度(重量％)×12而得到的差值A：‑128.95B：1C：‑0.0002428D：‑0.009922F0‑3＝[第1主面中的深度0～3μm的由SIMS得到的平均氟浓度(重量％)]×3 (II)。
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