[发明专利]层叠光学膜的缺陷检查方法以及层叠光学膜的制造方法有效
| 申请号： | 201680019040.8 | 申请日： | 2016-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN107407642B | 公开（公告）日： | 2020-04-03 |
| 发明（设计）人： | 富永俊彦;王一峰;许宰宁;李银珪 | 申请（专利权）人： | 住友化学株式会社;东友精细化工有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/892 | 分类号： | G01N21/892;G01N21/896 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 刘文海 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的一实施方式的层叠光学膜的缺陷检查方法包括：进行光学膜(11)的缺陷检查的第一检查工序；向光学膜(11)贴合保护膜(12)以及粘合件(13)而生成层叠光学膜(10A、10B)的工序；与在第一检查工序中检测出的缺陷(20)对应而对层叠光学膜(10A)进行(记号(30)的)标记的第一标记工序；进行层叠光学膜(10B)的缺陷检查的第二检查工序；以及与在第二检查工序中检测出的缺陷(21)对应而对层叠光学膜(10B)进行(记号(31)的)标记的第二标记工序，在第二检查工序中，不对在第一标记工序中标记出的记号(30)进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 层叠 光学 缺陷 检查 方法 以及 制造 | ||
【主权项】：
一种层叠光学膜的缺陷检查方法，其是向光学膜贴合保护膜以及粘合件中的至少一方而得到层叠光学膜、并对所述层叠光学膜中的缺陷进行检查的方法，所述层叠光学膜的缺陷检查方法的特征在于，包括：进行所述光学膜的缺陷检查的第一检查工序；向所述光学膜贴合所述保护膜以及所述粘合件中的至少一方而生成所述层叠光学膜的工序；与在所述第一检查工序中检测出的缺陷对应而对所述层叠光学膜进行标记的第一标记工序；进行所述层叠光学膜的缺陷检查的第二检查工序；以及与在所述第二检查工序中检测出的缺陷对应而对所述层叠光学膜进行标记的第二标记工序，在所述第二检查工序中，不对在所述第一标记工序中标记出的记号进行检测。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于住友化学株式会社;东友精细化工有限公司，未经住友化学株式会社;东友精细化工有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201680019040.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
