[发明专利]用于检查电子器件的方法有效
| 申请号： | 201680021844.1 | 申请日： | 2016-04-14 |
| 公开（公告）号： | CN107592910B | 公开（公告）日： | 2021-08-13 |
| 发明（设计）人： | K·布莱恩特;B·摩肯斯;M·温特艾伯 | 申请（专利权）人： | 依科视朗国际有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/18 | 分类号： | G01N23/18;G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 | 代理人： | 魏嘉熹;南毅宁 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于对电子器件进行缺陷检查的方法，所述方法具有以下步骤：通过自动光学检查对生产线中的电子器件进行检查；确定无法用自动光学检查进行检查的区域的坐标；将所述区域的坐标从生产线传输给计算机；将电子器件从生产线转移到用于无损材料检测的X射线装置中，所述X射线装置设置在生产线之外；将所述区域的坐标由计算机传输给X射线装置；仅在不能利用自动光学检查进行检查的区域中，通过X射线装置进行检查；将在X射线装置中进行的检查的结果传输给计算机；如果结果是电子器件没有缺陷，则将所述电子器件回送到生产线中。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检查 电子器件 方法 | ||
【主权项】：
用于对电子器件进行缺陷检查的方法，具有以下步骤：‑在生产线中通过自动光学检查对电子器件进行检查；‑确定无法利用自动光学检查进行检查的区域的坐标；‑将所述区域的坐标从生产线传输给计算机；‑将电子器件从生产线转移到用于无损材料检测的X射线装置中，所述X射线装置设置在生产线之外；‑将所述区域的坐标由计算机传输给X射线装置；‑仅在不能利用自动光学检查进行检查的区域中，通过X射线装置进行检查；‑将在X射线装置中进行的检查的结果传输给计算机；‑如果结果是电子器件没有缺陷，则将所述电子器件回送到生产线中。
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